ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器，由棱鏡或衍射光柵等構(gòu)成，利用光譜儀可測(cè)量物體表面反射的光線。

　　光譜儀使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變，改善了工作條件，提高了工作效率，測(cè)量準(zhǔn)確迅速，方便，且靈敏度高，響應(yīng)時(shí)間快，光譜分辨率高，測(cè)量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī)，繪圖儀輸出，被廣泛使用于幾乎所有的光譜測(cè)量，分析及研究工作中，適應(yīng)于對(duì)微弱信號(hào)，瞬變信號(hào)的檢測(cè)。

　　光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成，包括以下幾個(gè)主要部分：

　　1. 入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

　　2. 準(zhǔn)直元件：使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

　　3. 色散元件：通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長分散成為多條光束。

　　4. 聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長。

　　5. 探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。

　　ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀具備良好的分辨能力；防溢出背照式百萬像素CCD檢測(cè)器，紫外響應(yīng)高，無紫外熒光膜，使用壽命長；多種背景校正技術(shù)可供選擇，穩(wěn)定的質(zhì)量流量氬氣集成控制系統(tǒng)；可視化的安全聯(lián)鎖和運(yùn)行監(jiān)控，采用可拆卸炬管，內(nèi)置自動(dòng)化的炬管準(zhǔn)直、光源優(yōu)化功能，層次化的軟件界面，操作直觀、便捷，可滿足不同客戶的使用需求；豐富的方法庫和版本化的管理方式更利于方法的傳承、學(xué)習(xí)和維護(hù)。

　　應(yīng)用領(lǐng)域：高校、質(zhì)檢中心、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、企業(yè)、農(nóng)業(yè)系統(tǒng)、地質(zhì)地礦、環(huán)境保護(hù)、地質(zhì)冶金、電子電器、食品安全、化工制藥等，近年來在垃圾發(fā)電、固廢處理等行業(yè)應(yīng)用越來越廣泛。