電池組在連接至負(fù)載時(shí)會(huì)產(chǎn)生大量涌入電流，A20B-0008-0921這時(shí)可能出現(xiàn)zui大電芯壓差的誤報(bào)。因?yàn)殡娦咀杩故涠对龅挠咳腚娏鲿?huì)導(dǎo)致電芯電壓的嚴(yán)重失配。有些芯片在報(bào)告事件時(shí)有延遲，有些芯片則沒有。

　　2 電流檢測(cè)

　　用于測(cè)量電流的大多數(shù)電池系統(tǒng)都有三個(gè)電流比較器：放電短路(DSC)、放電過流(DOC)和充電過流(COC)。每個(gè)比較器都產(chǎn)生一個(gè)延遲，從而允許電流在一段時(shí)間內(nèi)大于限值，隨后再采取行動(dòng)。

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   與充電器相比，負(fù)載受到的控制較少，所以需要進(jìn)行快速電流放電檢測(cè)，以便關(guān)斷功率FET，防止損壞電池或功率FET本身。DSC事件發(fā)生時(shí)，功率FET常常延遲幾十至幾百毫秒才關(guān)斷。DSC延遲由定時(shí)延遲和功率FET關(guān)斷所需的時(shí)間組成。功率FET在柵極和源極通過隔離電阻器連接起來時(shí)處于關(guān)斷狀態(tài)。電阻器和柵電容構(gòu)成RC電路，決定FET的關(guān)斷時(shí)間。

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