開路電芯事件是指電芯內(nèi)部開路或者外部連接損壞。A20B-0008-0410事件的發(fā)生可能是緩慢的，也有可能是突然的。造成開路電芯事件的可能原因有老化、電芯制造質(zhì)量差和長(zhǎng)時(shí)間在惡劣環(huán)境中工作。外部連接損壞一般是由于電池組結(jié)構(gòu)差而導(dǎo)致。

　　電池組在連接至負(fù)載時(shí)會(huì)產(chǎn)生大量涌入電流，這時(shí)可能出現(xiàn)zui大電芯壓差的誤報(bào)。因?yàn)殡娦咀杩故涠对龅挠咳腚娏鲿?huì)導(dǎo)致電芯電壓的嚴(yán)重失配。有些芯片在報(bào)告事件時(shí)有延遲，有些芯片則沒有。

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    設(shè)置總DSC關(guān)斷時(shí)間延遲時(shí)要考慮許多因素。DSC關(guān)斷時(shí)間由損壞電池和電路的時(shí)間，與負(fù)載啟動(dòng)或連接時(shí)允許涌入電流通過的時(shí)間相較而定。DSC關(guān)斷時(shí)間與FET的關(guān)斷時(shí)間必須平衡。FET關(guān)斷速度過快會(huì)導(dǎo)致電芯測(cè)量引腳上產(chǎn)生較大電壓瞬變，zui接近功率FET的引腳zui容易受大電壓瞬變的影響，這些瞬態(tài)事件是功率FET與電池之間的跡線中儲(chǔ)存的電感能量，在電池組突然斷開與負(fù)載的連接時(shí)無處發(fā)散的結(jié)果。

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