SemiProbe-手動探針臺手動探針臺可配備50mm、100mm、150mm或200mm卡盤和支架，并可配備許多與PS4L系列探針臺中所使用的相同的熱卡盤、光學元件和操縱器?？稍谝院笸ㄟ^添加許多附件來增強系統(tǒng)功能。Lab Assistant是一種經(jīng)濟、小巧的探針系統(tǒng)，適用于研發(fā)中心和大學，具有工作所需的穩(wěn)定性和靈活性。它被配置為一個完整的系統(tǒng)，模塊化設計，簡單易操作、輕便可攜帶且價格實惠。

SemiProbe高頻探針臺-手動探針臺-半導體測試探針臺 產(chǎn)品描述：

SemiProbe高頻探針臺-手動探針臺-半導體測試探針臺 是一款模塊化設計、價格適中、體積小巧的探針系統(tǒng)，適用于研發(fā)中心和各大高校，具有高穩(wěn)定性和靈活性，滿足實驗室測量的需求。它配置完整，簡單易操作，安裝可經(jīng)由客戶完成，操作可在一小時內完成。Lab Assistant 探針臺可以配置為直流或高頻/微波測試配置，包括一系列精密配件，通常只在更大更昂貴的探針系統(tǒng)中使用。與之相比，一般情況下，這種功能的探針臺是非常昂貴的，但這款實驗室探針臺以非常有競爭力的價格實現(xiàn)提供了多種產(chǎn)品特點和功能選項—多種平臺、卡盤、光學組件和操縱器。并且可在之后增加各種附件從而增強系統(tǒng)功能性。此外，該探針臺有50mm、100mm、150mm或200mm卡盤和支架可供選擇，并可配備許多與PS4L系列探針臺中所使用的相同的熱卡盤、光學元件和操縱器。

SemiProbe高頻探針臺-手動探針臺-半導體測試探針臺 配置包括：

• 硬鋁基座，帶有橡膠隔振腳
• 晶圓平臺粗調和細調，可更換級選項-封裝部件或熱部件
• 精細的平臺移動，使用精準的測微計控制— X (25 mm), Y (25 mm) & Z (>20 mm)
• 粗略（360°）和精細（10°）θ調整
• 卡盤，附有隔離適配器和真空控制系統(tǒng)
• 鋁與不銹鋼鍍盤，附有可拆卸的前鍥
• 精密測微計驅動壓盤Z上升（13mm）
• 顯微鏡柱，附有同軸和線性顯微鏡X，Y移動100 mm x 100mm
• 7:1變焦(100x 放大倍率) 三目立體變焦顯微鏡，工作距離為100mm
• 兩個DC MA-8005 操縱器，帶磁性底座，面板和同軸探針臂（標準，F(xiàn)or LA-xx DC）
• 兩個DC MA-8000操縱器，帶磁性底座和HF西/東探測臂（標準，F(xiàn)or LA-xx HF）

技術參數(shù)（型號：LA-100 DC/HF）：

• 尺寸：420 mm X 540 mm X 535 mm
• 重量：32 kg
• 電源：AC 110/220V AC 50-60 Hz，20A
• 真空：23 Hg 或 -0.8 bar
• 基座：帶橡膠隔振腳的實心鋁剛性基座
• 卡盤X-Y軸移動：用于粗調的可調磁性滑軌（>100 mm）
• 微調-25 mm（X，Y）
• 整個支架可通過磁性基座輕松拆卸
• 卡盤Z移動：行程：20 mm
• θ移動：360°粗調，10°微調
• 卡盤類型：真空或機械夾緊，圓形或方形，高頻等
• 壓盤：鋁和不銹鋼頂部，可拆卸前楔
• 操縱器固定-磁性(標準)，真空(可選真空歧管)
• 壓盤位移：測微計驅動調節(jié)壓盤Z
• 顯微鏡安裝：剛性鋁柱（標準）或吊桿
• 顯微鏡移動：手動移動同軸和線性精密顯微鏡-100mm（X）和100mm（Y）

SemiProbe高頻探針臺-手動探針臺-半導體測試探針臺 可選配件：

CCTV系統(tǒng)（攝像機、監(jiān)視器和適配器）、操縱器、探針臂、探針、電纜、光學隔振臺，暗箱等