Checkerboard測(cè)試卡-棋盤測(cè)試卡-高精度棋盤測(cè)試圖卡 產(chǎn)品描述：

Imatest高度通用的 Checkerboard測(cè)試卡-棋盤測(cè)試卡-高精度棋盤測(cè)試圖卡 在廣泛的測(cè)試距離上工作，與Checkerboard模塊搭配使用。該模塊通過(guò)提供更多可測(cè)試區(qū)域來(lái)增強(qiáng)對(duì)不同距離的測(cè)試，以自動(dòng)測(cè)量圖像的銳度、橫向色差和畸變。請(qǐng)注意，這個(gè)模塊比eSFR ISO和SFRplus模塊運(yùn)行得慢，并且不能容忍數(shù)量的離焦或快速降解。

棋盤格測(cè)試圖可用于不同材料的可見光譜或近紅外(NIR)測(cè)試。對(duì)于可見光譜的選擇有:噴墨、高精度彩色菲林或高精度黑白菲林。對(duì)于近紅外(NIR)光譜，可在噴墨或高精度黑白菲林之間選擇。噴墨和照相圖表的對(duì)比度包括4:1、10:1和45:1，菲林圖卡的對(duì)比度為100:1。所有噴墨、照相和菲林選項(xiàng)都打印有12個(gè)垂直方格。

Imatest 棋盤測(cè)試卡可用于反射式、透射式、高精度和近紅外等多種基材。棋盤式設(shè)計(jì)提供了高密度SFR測(cè)量以及任何系統(tǒng)的高保真失真表征。各種尺寸可供選擇：從微觀到一米以上，或者可根據(jù)具體需求定制尺寸。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 可在可見光和近紅外波段使用。
• 多種對(duì)比度可選：4:1、10:1、 45:1、 100:1。
• 多種基板可選：噴墨、菲林、玻璃鍍鉻和近紅外兼容等。
• 多種尺寸可選，可定制

應(yīng)用范圍：

• 銳度（SFR）
• 橫向色差
• 光學(xué)畸變

示例：用線條和箭頭高度扭曲的圖像