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太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C

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更新時間：2024-09-08 07:55:56瀏覽次數(shù)：267次

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上海蔡康光學儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡，選用優(yōu)質(zhì)的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為工業(yè)金相顯微鏡使用。

詳細介紹

太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C
一、DJM-300C太陽能硅片檢測顯微鏡的特點和用途:
DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡，選用優(yōu)質(zhì)的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為高級工業(yè)金相顯微鏡使用?？蛇M行明暗場觀察、落射偏光、廣泛用于工廠、研究機構(gòu)、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠光路系統(tǒng)、三目透反射顯微鏡DJM-300C、500萬高清晰數(shù)字攝像頭及圖像測量管理軟件，可對太陽能電池板圖像進行檢查、拍照、測量、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器。

性能特點：

1、采用了較的光學顯微鏡與現(xiàn)代成像分析融為一體的圖像測量技術(shù)。

2、可對太陽能電池硅片進行檢查、拍照、測量、保存、輸出等多種操作。

3、系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠光路系統(tǒng)、大尺寸工作臺的三目透反射顯微鏡

4、可以測量太陽能電池片裂紋長度，崩邊長度角度，印刷位移角度偏差

5、可以測量主、副柵線，背電極的寬度、均勻度、柵線間距離及副柵線

到電池邊的距離，柵線、斷線長度，斷線缺損和變色的面積

6、可以檢查太陽能電池表面顏色色差、絨面色斑亮斑，裂紋，崩邊，掉

角缺口，印刷偏移主副柵線、背電極的斷線，缺損，扭曲，變色等現(xiàn)象。

7、可對雜質(zhì)、殘留物成分進行分析。雜質(zhì)包括: 顆粒、有機雜質(zhì)、無機雜

質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等。

。

二、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C的技術(shù)參數(shù):

型號	技術(shù)規(guī)格
目鏡筒	鉸鏈式三目鏡,傾斜30?,內(nèi)置檢偏振片,可進行切換；瞳距調(diào)節(jié)范圍 55-75mm,屈光度±5可調(diào)。
目鏡	WF10X(Φ22mm)
物鏡	無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL 5X/0.12 工作距離:26.3mm
	無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L10X/0.25 工作距離:20.2mm
	無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L40X/0.60（彈簧）工作距離：3.98 mm
	無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L60X/0.70（彈簧）工作距離：3.18 mm
	無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L100X/0.85（彈簧）工作距離：0.40 mm
落射照明系統(tǒng)	6V 30W鹵素燈,亮度可調(diào)
落射照明系統(tǒng)	落射照明器帶 (黃,藍,綠)濾色片和磨砂玻璃視場光欄和孔徑光欄大小可調(diào)節(jié)，可插入式起偏振片，可進行偏光觀察和攝影
透射照明系統(tǒng)	阿貝聚光鏡 NA.1.25 可上下升降。藍濾色片和磨砂玻璃集光器，鹵素燈照明適用(內(nèi)置視場光欄) ，6V 30W 鹵素燈,亮度可調(diào)
調(diào)焦機構(gòu)	粗微動同軸調(diào)焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
轉(zhuǎn)換器	五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)
載物臺	雙層機械移動式(尺寸:210mmX140mm,移動范圍:75mmX50mm)
電腦攝像系統(tǒng)	1X攝影接口，標準C接口， CK-500數(shù)字攝像系統(tǒng)，分辨率：2592X1944，芯片尺寸：1/2.5"， USB2.0連接, 圖像質(zhì)量好 ,色彩還原性好 ,圖像穩(wěn)定，有多種圖像處理方式（詳細參數(shù)見CK-500攝像機介紹）測量軟件功能： 1、可進行圖像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB顏色等多種處理方法。 2、當前圖像放大、縮小、剪切、背景等設(shè)置。 3、對圖像中的點、線、圓、圓弧、角度、矩形及任何圖形幾何參數(shù)的測量。測量工具使用方便直觀。是顯微圖像測量與分析的有效工具。