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東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 深圳恒溫恒濕試驗(yàn)箱,深圳冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫濕熱老化試驗(yàn)箱 |
準(zhǔn)會(huì)員.png)
公司信息
| 參考價(jià) | 面議 |
- 型號(hào) AP-GD
- 品牌
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
- 所在地 東莞市
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更新時(shí)間：2017-10-26 14:27:33瀏覽次數(shù)：353
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老化實(shí)驗(yàn)恒溫箱箱子｜恒高低溫老化試驗(yàn)主要是供給于工業(yè)行業(yè)的產(chǎn)品如：光電、LED、電工、電器、電子、塑膠、油漆、涂料、機(jī)動(dòng)車配件、手機(jī)、電腦、打印機(jī)等產(chǎn)品以及原材料在低溫的環(huán)境中使用或者擺放等時(shí)試驗(yàn)其所反應(yīng)的性能指標(biāo)。該低溫試驗(yàn)機(jī)主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫的條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行模擬低溫環(huán)境測(cè)試；測(cè)試后，通過檢測(cè)來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
老化實(shí)驗(yàn)恒溫箱箱子｜恒高低溫老化試驗(yàn)整機(jī)由東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司精心打造，除了可提供標(biāo)準(zhǔn)普通的高溫、低溫試驗(yàn)，還可設(shè)定編程高低溫循環(huán)或者交變?cè)囼?yàn)。還可以非常定制成快速冷熱沖擊試驗(yàn)，或者按線性/非線性快速升降溫試驗(yàn)定制。高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；內(nèi)箱材質(zhì)采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼 SUS304（此材料有抗腐蝕強(qiáng)、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)勢(shì)）。保溫材料采用高密度聚氨酯防水防火發(fā)泡絕熱材料，能確保將熱量散失減到zui小，為節(jié)能降耗打好基礎(chǔ)。外箱材質(zhì)可選擇SUS30優(yōu)質(zhì)不銹鋼或者選擇表面烤漆加色處理，不管采用哪種材質(zhì)，愛佩均能保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命。箱門的則采用高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條，有效確保所有冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱大門的高密封性。再配上大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明，可以給顧客提供良好的觀察試驗(yàn)效果；還可可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能。
選型資料如下：
高低溫實(shí)驗(yàn)箱型號(hào):AP-GD-80 /AP-GD-150 /AP-GD-225 /AP-GD-408 /AP-GD-800/AP-GD-1000（更多型號(hào)在愛佩）
內(nèi)箱尺寸（寬W×高H×深D）cm:80L:40×50×40, 150L:50×60×50, 225L:50×75×60,408L:60×85×80, 800L:100×100×80,1000L:100×100×100
外箱尺寸（寬W×高H×深D）cm:80L:93×131×81,150L:103×141×91, 225L:108×162×112,408L:117×172×132, 800L:160×187×132, 1000L:150×195×165
容積（升=L） :80L,150L,225L,408L,800L,1000L
溫度笵圍:0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-70℃～150℃
升溫速度 :RT～150℃約40min
降溫速度:20℃～0℃約25min,20℃～-20℃約40min,20℃～-40℃約60min,20℃～-70℃約100min
溫度分布均度 :±2℃
溫度波動(dòng)度:±0.5℃
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)
EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
