confovis  WAFERinspect AOIAOI測量系統(tǒng)

公司簡介

onfovis 是工業(yè)應用光學 3D 測量系統(tǒng)的系統(tǒng)供應商。自 2009 年以來，該公司一直專注于面向客戶和應用的解決方案。Confovis獲得的“結構照明顯微鏡"共聚焦顯微鏡為工業(yè)應用的快速和納米級表面分析開辟了新的前景。使用新一代的測量系統(tǒng), Confovis 在單個系統(tǒng)中結合了共焦測量技術和焦距變化。通過這樣做，測量設備專家為汽車和航空航天、工具制造和機械工程、冶金、半導體和光學行業(yè)的行業(yè)客戶提供了一種節(jié)省時間和成本的解決方案，用于大多數(shù)不同的測量任務，例如微輪廓測量和粗糙度測量溯源到認證標準，按照有效的規(guī)范onfovis 是工業(yè)應用光學 3D 測量系統(tǒng)的系統(tǒng)供應商。自 2009 年以來，該公司一直專注于面向客戶和應用的解決方案。Confovis獲得的“結構照明顯微鏡"共聚焦顯微鏡為工業(yè)應用的快速和納米級表面分析開辟了新的前景。使用新一代的測量系統(tǒng), Confovis 在單個系統(tǒng)中結合了共焦測量技術和焦距變化。通過這樣做，測量設備專家為汽車和航空航天、工具制造和機械工程、冶金、半導體和光學行業(yè)的行業(yè)客戶提供了一種節(jié)省時間和成本的解決方案，用于大多數(shù)不同的測量任務，例如微輪廓測量和粗糙度測量溯源到認證標準，按照有效的規(guī)范

產(chǎn)品簡介

快速共焦 3D 測量– 不受材料影響

2D 測量：關鍵尺寸：線/空間、支柱、覆蓋（Halcon、Cognex-Software）

高度自動化：從晶圓處理到結果

通過SECS/GEM向主機提供詳細信息

通過精細對準、KLARFF 文件和簡單的操作模式進行目視檢查

產(chǎn)品型號

confovis  WAFERinspect AOIAOI測量系統(tǒng)