面銅標(biāo)準(zhǔn)片,標(biāo)準(zhǔn)片
面銅標(biāo)準(zhǔn)片 面議干燥設(shè)備 粉碎設(shè)備 混合設(shè)備 反應(yīng)設(shè)備 過濾分離設(shè)備 過濾材料 滅菌設(shè)備 萃取設(shè)備 貯存設(shè)備 傳熱設(shè)備 鍋爐 塔設(shè)備 結(jié)晶設(shè)備 其它制藥設(shè)備
深圳市鼎極天電子有限公司
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號CMI243
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
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更新時間:2017-10-10 00:54:38瀏覽次數(shù):2835次
聯(lián)系我時,請告知來自 制藥網(wǎng)手持式涂層測厚儀CMI233測量黑色金屬底材上的金屬鍍層厚度,用于緊固件、螺栓、汽車部件、齒輪、管件等表面鍍層。
涂層測厚儀 CMI243
手持式涂層測厚儀CMI233測量黑色金屬底材上的金屬鍍層厚度,用于緊固件、螺栓、汽車部件、齒輪、管件等表面鍍層。
技術(shù)規(guī)格:
CMI243配置包括:
CMI243探針狀況:
CMI243的ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設(shè)計,此單探頭可以測量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。
| zui小凸面半徑 | zui小凹面半徑 | 工作高度 | zui小測量面積直徑 | zui小底材厚度 |
1.2mm | 3.5mm | 100mm | 2.5mm | 0.3mm(12mils) |
操作范圍
| 鐵上鍍層 | 鍍層厚度范圍 | 探頭 |
| Zn | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
| Ni | 0-75μm(0-3.0mil | ECP-M |
| Cd | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
| Cr | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
| Cu | 0-10μm(0-0.4mil) | ECP-M |
| 非磁性/Fe | 0-1270μm(0-50mil) | SMP-1 |
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主營產(chǎn)品:鍍層測厚儀,X-Ray測厚儀,鍍金測厚儀,金厚測試儀,牛津光管
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