產(chǎn)地：德國(guó)

簡(jiǎn)介：

? 測(cè)角儀可移動(dòng)，可以測(cè)更大度數(shù)的2Θ角

? 對(duì)到晶格空間進(jìn)行放大探測(cè)

? 采用雙光束，有很大的靈活性

• 在IPDS II 的基礎(chǔ)上進(jìn)行拓展，可測(cè)2θ角zui大值137°；

• 適用于銅反射和電子密度測(cè)量；

• 軟件可用于數(shù)據(jù)收集和計(jì)算；

•即使是比較復(fù)雜的樣品（多域調(diào)制晶體），也能夠提供有效的分析結(jié)論

• 支持DACs

規(guī)格參數(shù)：

尺寸：1680 x 880 x 2110mm；雙儀器結(jié)構(gòu)：2050 x 1260 x 2110mm

重量：420 kg；  雙儀器結(jié)構(gòu)：600kg

zui大2θ =137°

測(cè)角儀：ω：180°，φ：360°

       2θ：0°，5°，30°，45°，60°

探測(cè)器間距：40 - 200 mm (自動(dòng)設(shè)定值)

zui小d/Å：0.30 Ag KA， 0.38 Mo KA，0.83 Cu KA

X射線源：密封管： Ag, Mo, Cu

              微焦點(diǎn)源： Ag, Mo, Cu

成像板尺寸(活動(dòng)區(qū))：340mm

噪音：因?yàn)闊o(wú)暗流，因此噪音很低

STADI P型粉末衍射儀	STADI MP型三合一粉末衍	STADIVARI型單晶衍射儀	IPDS2T型單晶衍射儀
IPDSII型單晶衍射儀

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