| 深圳賽普思科技有限公司
主營產(chǎn)品： XRD，SEM，SAM，LIBS |
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主營產(chǎn)品： XRD，SEM，SAM，LIBS |
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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缺陷分析－超聲波掃描顯微鏡（ＳＡＭ） 簡單介紹：缺陷分析－超聲波掃描顯微鏡（ＳＡＭ）學(xué)名是：掃描聲學(xué)顯微鏡Scanning Acoustic Microscope，簡稱SAM。它是基于聲波脈沖反射和透射原理工作的，只要聲波信號在樣品表面或者內(nèi)部遇到聲波阻抗（如遇到孔隙、氣泡等），就會發(fā)生反射。 SAM主要用于材料淺表層結(jié)構(gòu)分析、材料力學(xué)性能的檢測、無損檢測等。 產(chǎn)品型號： 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2017-07-15 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
