| 深圳賽普思科技有限公司
主營產(chǎn)品： XRD，SEM，SAM，LIBS |
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主營產(chǎn)品： XRD，SEM，SAM，LIBS |
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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LEAP4000三維原子探針（3DAP）-原子探針斷層分析術(shù)（APT）LEAP4000 簡單介紹：三維原子探針顯微術(shù)（3DAP），也稱為原子探針斷層分析術(shù)（APT），是一種具有原子級空間分辨率的測量和分析方法，它可以對不同元素的原子逐個進(jìn)行分析，并給出納米空間中不同元素原子的三維分布圖形，分辨率接近原子尺度，是目前Z微觀、且分析精度較高的一種定量分析手段。 產(chǎn)品型號：LEAP4000 所在地：深圳市 更新時間：2017-10-20 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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LVEM5透射顯微鏡 簡單介紹：透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學(xué)顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。 產(chǎn)品型號： 所在地：深圳市 更新時間：2017-07-27 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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LVEM5掃描電子顯微鏡ＳＥＭ 簡單介紹：透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學(xué)顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。 產(chǎn)品型號： 所在地：深圳市 更新時間：2017-07-21 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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形貌分析－多功能電子顯微鏡（ＴＥＭ－ＳＥＭ） 簡單介紹：多功能電子顯微鏡將常見的ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＳＴＥＭ、ＥＤ四種模式結(jié)合在一起，用戶可根據(jù)樣品分析需要進(jìn)行隨意切換。 利用電子與物質(zhì)作用所產(chǎn)生之訊號來監(jiān)定微區(qū)域晶體結(jié)構(gòu)，微細(xì)組織，化學(xué)成份，化學(xué)鍵結(jié)和電子分布情況的電子光學(xué)裝置。常用的有透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學(xué)顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。 產(chǎn)品型號： 所在地：深圳市 更新時間：2017-07-18 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
