| 深圳賽普思科技有限公司
主營產(chǎn)品： XRD，SEM，SAM，LIBS |
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主營產(chǎn)品： XRD，SEM，SAM，LIBS |
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Ｘ射線衍射殘余應(yīng)力分析儀 參考價(jià)：面議
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缺陷分析－超聲波掃描顯微鏡（ＳＡＭ） 參考價(jià)：面議
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形貌分析－多功能電子顯微鏡（ＴＥＭ－ＳＥＭ） 參考價(jià)：面議
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Ｘ射線熒光－Ｘ射線衍射聯(lián)用儀（ＸＲＦ－ＸＲＤ） 參考價(jià)：面議
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晶體結(jié)構(gòu)分析－便攜式Ｘ射線衍射儀（ＸＲＤ） 參考價(jià)：面議
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LEAP4000三維原子探針（3DAP）-原子探針斷層分析術(shù)（APT）LEAP4000 參考價(jià)：面議
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成分分析－激光拉曼光譜分析儀（ＲＡＭＡＮ） 參考價(jià)：面議
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元素分析－激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析儀（ＬＩＢＳ） 參考價(jià)：面議
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大型二次離子質(zhì)譜 IMS 1280-HR 參考價(jià)：面議
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二次離子質(zhì)譜 IMS 7f 參考價(jià)：面議
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LVEM5透射顯微鏡 參考價(jià)：面議
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高分辨率二次離子質(zhì)譜NanoSIMS 50L 參考價(jià)：面議
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Ｘ射線熒光－Ｘ射線衍射聯(lián)用儀（ＸＲＦ－ＸＲＤ） 參考價(jià)：面議
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LVEM5掃描電子顯微鏡ＳＥＭ 參考價(jià)：面議
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Ｘ射線衍射殘余應(yīng)力分析儀 參考價(jià)：面議
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形貌分析－多功能電子顯微鏡（ＴＥＭ－ＳＥＭ） 參考價(jià)：面議
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缺陷分析－超聲波掃描顯微鏡（ＳＡＭ） 參考價(jià)：面議
