北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本PHL公司*，并應用到的測試中。日本PHL公司在光子晶體的研究和制造領域世界，由此開發(fā)出的光子晶體探測器型具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經(jīng)在光學薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領域有著廣泛的應用。該可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比傳統(tǒng)的光譜型，光子晶體探測器型避免了探測器的機械運動。使得測試速度更快、測試更加準確、成本更加低廉。

SE-101，SE-102型都是經(jīng)濟小巧的桌面式，SE-101主要用于薄膜的單點測量,SE-102則可進行點、線和面的測量。該系列設備使用簡單，免維護，價格低廉，特別適合于實驗室和工藝線的在線膜厚檢測。

技術規(guī)格：

詳細信息請咨詢我們。