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半導(dǎo)體電子元器件可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱

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更新時間：2024-10-20 08:47:31瀏覽次數(shù)：225次

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東莞市勤卓環(huán)境測試設(shè)備有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：1156條

所在地區(qū)：廣東東莞市

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產(chǎn)品簡介

半導(dǎo)體電子元器件可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱詳細(xì)說明：應(yīng)用於航空、航太、電子儀器儀錶、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等作高低溫漸變試驗(yàn)、高溫高濕試驗(yàn)、低溫低濕試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)。耐寒性試驗(yàn)、低溫貯存，以便對試品在擬定環(huán)境條件下的性能、行為作出分析及評價。

詳細(xì)介紹

1.半導(dǎo)體電子元器件可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱詳細(xì)說明：
應(yīng)用於航空、航太、電子儀器儀錶、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等作高低溫漸變試驗(yàn)、高溫高濕試驗(yàn)、低溫低濕試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)。耐寒性試驗(yàn)、低溫貯存，以便對試品在擬定環(huán)境條件下的性能、行為作出分析及評價。

2.半導(dǎo)體電子元器件可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱詳細(xì)參數(shù)：

一、本品優(yōu)勢性能

二、本品禁止：
&sp2;易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲存 &sp2;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲存 &sp2;生物試樣的試驗(yàn)或儲存 &sp2;強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲存
三、產(chǎn)品用途
可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
四、主要技術(shù)參數(shù)
4.1	內(nèi)腔尺寸	500600500mm (寬×高×深)
	外形尺寸	75016151224mm(寬×高×深)
	工作形式	低溫、高溫、濕熱按程序自動交變。.
	溫度范圍	-40~+150℃
	濕度范圍	20~98%
	降溫速率	1~1.2℃ / min(空載下非線性)
	升溫速率	2--3 ℃ / min (空載下非線性)
	溫度控制精度	0.01
	溫度均勻度	&plsmn;1.5℃
	溫度偏差	&plsmn;1.5
	濕度偏差	&plsmn;2.5%RH
	溫度交變范圍	-40℃～+150℃(任意溫度點(diǎn)可設(shè)定)
	試驗(yàn)條件	可執(zhí)行 3 種試驗(yàn)條件（高溫-低溫-濕熱）可編程控制，多段設(shè)定。
	噪音	65dB以內(nèi)
4.2	1、GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
	2、GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
	3、GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
	4、GB/T2423.4-2008 交變濕熱試驗(yàn)方法
	5、GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗(yàn)方法
	6、GJB150.9 濕熱試驗(yàn)。。。。。。