| 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 實(shí)驗(yàn)儀器 |
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| 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 實(shí)驗(yàn)儀器 |
| 參考價(jià) | ￥ 60000 |
| 訂貨量 | 1pcs |
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更新時(shí)間：2025-12-10 14:00:00瀏覽次數(shù)：1117
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| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
|---|---|---|---|
| 自動(dòng)化程度 | 全自動(dòng) |
絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)
離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
應(yīng)用領(lǐng)域：
封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料；
電子材料：印BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件；
有機(jī)半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；
電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；
絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估。
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絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估平臺(tái) ¥ 60000
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HC華測(cè)多通道電阻/介電測(cè)試系統(tǒng) ¥ 50000
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HCDJC-100KV100KV高電壓電壓擊穿試驗(yàn)儀 ¥ 45653
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100vK新型電壓擊穿試驗(yàn)儀 ¥ 56541
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