適用于復雜苛刻樣品的塞曼原子吸收

ZEEnit系列原子吸收光譜儀是為復雜基體樣品的常規(guī)分析而設計的。 該系統(tǒng)結合了du特的石墨爐概念、*的塞曼背景校正以及可變磁場強度的技術亮點。

• 可變磁場強度(2磁場/3磁場和動態(tài)模式)提供最大靈敏度和擴展線性工作范圍

• 智能預編程功能，自動校準和自動樣品稀釋，以及多樣化的配件，最大限度地提高生產率，ji高的安全性和用戶友好性

• 可擴展使用固體進樣器直接分析固體樣品

*的塞曼技術

原子吸收光譜法是一種廣泛用于測定痕量到主量范圍的元素的技術。 其特殊的挑戰(zhàn)是痕量分析，特別是分析復雜基體樣品中的有毒有害元素。 為了滿足這一要求，德國耶拿提供了可靠的ZEEnit系列原子吸收光譜儀，并采用了成熟的塞曼技術。這里使用的塞曼背景校正是zui*的原子吸收背景校正技術之一，能夠保證可靠的結果。ZEEnit 650 P和ZEEnit 700系列都是配備了橫向加熱高性能石墨爐的緊湊型光譜儀，塞曼背景校正系統(tǒng)的塞曼磁場可設置2磁場 /3磁場和動態(tài)磁場，磁場強度可調，從而獲得最大的靈敏度和擴展的工作曲線范圍。 此外，該系統(tǒng)還額外配備了*的氘空心陰極燈背景校正系統(tǒng)。

ZEEnit 700系列的全自動火焰模式，覆蓋了極寬的濃度范圍。 操作系統(tǒng)簡單友好，許多過程皆為自動化設計。 我們通過許多功能*的組件實現這種高度自動化，如8燈位的自動切換燈架，用于使用編碼燈和超燈的RFID工具，具有智能化自動稀釋功能的自動進樣器，以及緊湊設計的爐體等等。預置的典型應用程序以及軟件中的快速啟動功能，使常規(guī)應用程序的快速啟動成為可能。 du特的AAS直接固體分析技術和ZEEnit石墨爐技術相結合，樣品無需消解即可測試，zui大程度地減少了樣品制備的工作量。