| 測(cè)量范圍 |
厚度50-570埃 |
測(cè)量精度 |
±1% |
| 產(chǎn)地 |
國(guó)產(chǎn) |
產(chǎn)品新舊 |
全新 |
| 顯示方式 |
數(shù)顯 |
自動(dòng)化程度 |
全自動(dòng) |
電阻法鍍鋁薄膜厚度測(cè)試儀DMT-E也叫金屬鍍層測(cè)厚儀,是濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司生產(chǎn)的,適用于各種鍍鋁薄膜、鍍鋁紙測(cè)試電阻值、均勻度、厚度值的測(cè)試。

常用的測(cè)量鍍鋁膜鋁層厚度測(cè)方法有三種,分別是光密度法、表面方塊電阻測(cè)量、第三種方法是目測(cè)估計(jì)法。我們今天主要介紹的是表面方塊電阻測(cè)量發(fā)。此法測(cè)試所用的儀器是電阻法鍍鋁薄膜厚度測(cè)試儀DMT-S。
電阻法鍍鋁薄膜厚度測(cè)試儀DMT-S也叫金屬鍍層測(cè)厚儀,是濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司生產(chǎn)的,適用于各種鍍鋁薄膜、鍍鋁紙測(cè)試電阻值、均勻度、厚度值的測(cè)試。
金屬鍍層測(cè)厚儀符合GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法電阻法 標(biāo)準(zhǔn)要求,可檢測(cè)厚度50-570埃的鍍鋁層厚度,0.5-5Ω的方塊電阻測(cè)量范圍,±1%的方塊電阻測(cè)量誤差,用于各種鍍鋁薄膜表面鍍鋁層的電阻值、均勻度、厚度值的檢測(cè)。
儀器技術(shù)參數(shù);
厚度測(cè)量范圍:厚度50-570埃
方塊電阻測(cè)量范圍:0.5-5Ω
方塊電阻測(cè)量誤差:±1%
樣品尺寸:100×100mm
夾樣誤差:±0.1mm
測(cè)溫范圍:0~50℃,精度±1℃
外形尺寸:370mm×330mm×450mm (長(zhǎng)寬高)
重量:19kg
工作溫度:23℃±2℃
相對(duì)濕度:80%,無(wú)凝露
工作電源:220V 50Hz
濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司是專業(yè)的藥包材檢測(cè)儀器廠家,尋找金屬鍍層測(cè)厚儀、CPP真空鍍鋁膜測(cè)厚儀、滿足GB/T 15717金屬鍍層厚度儀 。
