薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。薄膜測(cè)厚儀符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)。
采用世界zui先技術(shù)，精度高達(dá)0.1um，多次測(cè)量結(jié)果高度*性；操作調(diào)試方便，測(cè)量結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分析、打印輸出；
可連接計(jì)算機(jī)，根據(jù)客戶的需求選擇按數(shù)據(jù)表統(tǒng)計(jì)或柱狀圖進(jìn)行統(tǒng)計(jì)兩種方式，同時(shí)還可以試驗(yàn)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成網(wǎng)頁(yè)格式，實(shí)際在網(wǎng)絡(luò)或局域網(wǎng)內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳輸。
技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍：0～2mm（常規(guī)）
                   0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測(cè)量速度：10次/min（可調(diào)）
測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
           注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
了解詳情請(qǐng)致電：濟(jì)南蘭光