詳細(xì)介紹 用于原片透射光譜檢測(cè)和真空腔室內(nèi)分布式透射光譜測(cè)量。 注:此產(chǎn)品必須配備Filmonitor6000分析基礎(chǔ)部分。 原片透射光譜測(cè)量:光譜透射比在線(xiàn)測(cè)量系統(tǒng) Filmonitor6110 安裝于鍍膜線(xiàn)的上片清洗后,潔凈隔離室內(nèi),用于檢測(cè)鍍膜原片的品質(zhì)及一致性,保證在鍍膜工藝穩(wěn)定時(shí),原片的一致性,在鍍膜加工前將不合格的原片挑出,防止由于原片的不一致導(dǎo)致的鍍膜色差,避免不必要的原片色差超差造成的廢品和生產(chǎn)浪費(fèi)。這種情況一般發(fā)生在使用相同型號(hào)不同批號(hào)的原片玻璃,尤其是浮法玻璃產(chǎn)品改色后,其靈敏的測(cè)試精度,也可以在監(jiān)測(cè)原片是否發(fā)霉的情形下,起到相當(dāng)有效的作用。 真空室內(nèi)透射光譜測(cè)量:安裝在生產(chǎn)線(xiàn)各個(gè)關(guān)鍵膜層鍍制的真空隔離艙室內(nèi),對(duì)單銀Low-E檢測(cè)、尤其是更加復(fù)雜的雙銀和三銀Low-E低輻射鍍膜具有非常重要的作用,多膜層的復(fù)雜結(jié)構(gòu),如果單一膜層發(fā)生工藝偏差,如果沒(méi)有每個(gè)膜層的測(cè)量,找出原因?qū)⑹欠浅?fù)雜和耗時(shí)的,真空室內(nèi)透射光譜測(cè)量可以通過(guò)對(duì)每一層膜光譜的控制,最終可以對(duì)Low-E低輻射鍍膜的顏色和性能進(jìn)行嚴(yán)格控制。檢測(cè)每一層的光譜曲線(xiàn),并與預(yù)設(shè)的目標(biāo)曲線(xiàn)比對(duì),對(duì)每層膜的準(zhǔn)確控制才能得到優(yōu)質(zhì)的鍍膜品質(zhì),并可以指導(dǎo)生產(chǎn)工藝、新產(chǎn)品的研發(fā)以及全面的質(zhì)量管理,被用戶(hù)形象的稱(chēng)為真空室內(nèi)的“眼睛"。 測(cè)量對(duì)象 Low-E低輻射鍍膜玻璃 儀器功能 光譜透射比,Yxy;L*、a*、b*色差等顏色參數(shù); 儀器特點(diǎn) 設(shè)備采用網(wǎng)絡(luò)化連接,配置靈活 自動(dòng)動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)技術(shù),設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間無(wú)檢測(cè)數(shù)據(jù)漂移 獨(dú)特的光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),避免抖動(dòng)及濺射物飄落污染部件 自主開(kāi)發(fā)控制系統(tǒng),適合鍍膜玻璃行業(yè)用戶(hù)使用習(xí)慣 開(kāi)放控制接口,可以接受鍍膜系統(tǒng)控制參數(shù)進(jìn)行聯(lián)動(dòng)與數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 技術(shù)參數(shù) 技術(shù)指標(biāo) 技術(shù)指標(biāo) 1.測(cè)量對(duì)象:鍍膜玻璃; 2.測(cè)量幾何條件:8°/8° ; 3.波長(zhǎng)范圍:380~1000nm; 4.測(cè)量方式:固定點(diǎn)測(cè)量; 5.波長(zhǎng)間隔:5nm; 6.光源:特制LED光源 ; 7.波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:≤0.3nm; 8.玻璃厚度范圍:1~19mm(可定制其它厚度); 9.波長(zhǎng)重復(fù)性:0.1nm; 10.測(cè)量速度:每點(diǎn)每次測(cè)量速度≤500ms,每點(diǎn)測(cè)量間隔時(shí)間不少于1s; 11.測(cè)量重復(fù)性:對(duì)同一片玻璃同一點(diǎn)30次連續(xù)測(cè)量,Tv、L*a*b*測(cè)值波動(dòng)<0.1RMS
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