詳細(xì)介紹
本系統(tǒng)安裝于真空卷繞鍍膜機(jī)內(nèi),相當(dāng)于安裝在生產(chǎn)線內(nèi)的全自動(dòng)分光光度計(jì),用于膜層或鍍膜成品的透反射光譜性能監(jiān)測(cè),配置靈活,可選擇多種方式測(cè)量,采用橫向多點(diǎn)或縱向不同位置進(jìn)行透反射光譜測(cè)量,配置參考光路,穩(wěn)定性。便于工藝人員監(jiān)測(cè)鍍膜情況,提早調(diào)整工藝參數(shù),節(jié)省成本。
測(cè)量對(duì)象
- 薄膜材料
儀器特點(diǎn)
- 快速實(shí)時(shí)光譜測(cè)量,監(jiān)控靶室內(nèi)膜層變化;
- 具有特殊設(shè)計(jì)的參考光路,長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行無(wú)漂移;
- 可以選擇測(cè)量基材、靶室內(nèi)過(guò)程及成品測(cè)量;
- 自主開發(fā)軟件系統(tǒng),自行設(shè)定變化趨勢(shì)報(bào)警區(qū)間。
儀器功能
- 光譜透射比、反射比 、顏色參數(shù) Yxy、L*、a*、b*、色差ΔE
技術(shù)參數(shù)
| 項(xiàng)目 | 參數(shù) |
| 測(cè)量幾何條件 | 8°/8° |
| 光譜范圍 | 380~1000nm |
| 波長(zhǎng)間隔 | 1nm |
| 探頭間隙 | 3~23mm |
| 波長(zhǎng)準(zhǔn)確性 | 優(yōu)于0.3nm |
| 波長(zhǎng)重復(fù)性 | 優(yōu)于0.1nm |
| 測(cè)量速度 | 每點(diǎn)每次測(cè)量速度≤500ms,每點(diǎn)測(cè)量間隔時(shí)間不少于1秒 |
| 短時(shí)間穩(wěn)定性 | 同一玻璃同一點(diǎn)經(jīng)30次連續(xù)測(cè)量,L、a、b*的波動(dòng)<0.1RMS |
| 長(zhǎng)時(shí)間漂移 | 重啟儀器或置換光源后,測(cè)量同一片玻璃同一點(diǎn),L、a、b*測(cè)值波動(dòng)<0.1RMS |
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