吉時利2651A、2657A數(shù)字源表，2650系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產(chǎn)品和功率半導體元件（例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉(zhuǎn)換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件）的檢定和測試而設(shè)計。 它們提供的功率、精度、速度、靈活性、易用性，可提高研發(fā)、生產(chǎn)測試和可靠性環(huán)境中的效率。 兩種儀器可以提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈沖電流功率。優(yōu)勢提供相比同類產(chǎn)品頗具優(yōu)勢的性能，具有 6 位分辨率支持功率半導體、HBLED、光學設(shè)備、太陽能電池、GaN、SiC 和其他復(fù)合材料與設(shè)備的檢定/測試。應(yīng)用范圍包括半導體接點溫度檢定;高速、高精度數(shù)字化;電遷移研究;以及高電流、高功率設(shè)備測試。提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓，包括 GaN、SiC 及其他復(fù)合材料和器件、高達 3kV 的故障和漏電測試以及亞毫秒瞬態(tài)檢定支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從任何地方進行遠程控制。支持精確檢定瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為，包括快速變化的熱效應(yīng)可以與 2657A 型與 2600B 系列型號輕松地進行系統(tǒng)集成讓多臺 2651A 和 2657A 與所選 2600B 系列 SMU 儀器組合成多達 32 條通道的集成系統(tǒng)。為封裝部件或晶片級高功率設(shè)備測試提供安全而方便的連接幫助您創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲 TSP 測試腳本開發(fā)、質(zhì)量檢驗或故障分析期間執(zhí)行封裝部件檢定時，較大限度地提高工作效率。