0.0001mm薄膜測厚儀

應用領域 多種適用場景

用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度準確測量；

對金屬箔片、鋁箔片、銅箔片等硬質材料厚度準確測量；

接觸式測試原理可更有效地檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值；

通過調節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完成各種紙張、紙板材料厚度測試。

0.0001mm薄膜測厚儀產(chǎn)品特點展示

微電腦控制

微電腦控制、大液晶顯示，高精度傳感器，保證了測試精度，嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制

測量頭自動升降

測量頭自動升降，手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇，標準量塊標定，方便用戶快速標定設備

使用方便

配備微型打印機，數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計，自動保存多組測試結果，提供測試結果圖形統(tǒng)計分析、方便打印每次測量結果，方便用戶分析數(shù)據(jù)

配置齊全

測厚儀手動進樣，儀器可配置自動進樣器進行自動測試，配備標準 RS232 接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸（通訊軟件選配）

高精度薄膜測厚儀測試原理

測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。

技術參數(shù)：

測量范圍：0-2mm（其他量程可定制）

分辨率：0.1μm

測量速度：10 次 / 分（可調）

接觸面積：50mm2（薄膜），200mm2（紙張）；注：薄膜、紙張任選一種

進樣步矩：0 ~ 1300 mm（可調）（選配功能）

進樣速度：0 ~ 120 mm/s（可調）（選配功能）

外形尺寸：450mm×340mm×390mm

重量：18kg