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詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) 3I1MSCU紅外測(cè)溫儀是有多種溫度范圍、瞄準(zhǔn)方式、光學(xué)分辨率可選的紅外測(cè)溫儀。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) 3I2ML3U紅外測(cè)溫儀是有多種溫度范圍、瞄準(zhǔn)方式、光學(xué)分辨率可選的紅外測(cè)溫儀。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) MX6紅外測(cè)溫儀具有數(shù)碼照相功能，可在測(cè)量的同時(shí)拍攝被測(cè)區(qū)域的圖像，并存儲(chǔ)數(shù)碼圖像和溫度及相關(guān)的時(shí)間/日期。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) 3I2MSCU紅外測(cè)溫儀有多種溫度范圍、瞄準(zhǔn)方式、光學(xué)分辨率可選，并提供光譜響應(yīng)以滿(mǎn)足工業(yè)上特殊的應(yīng)用。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) MX2紅外測(cè)溫儀采用了的紅外線(xiàn)測(cè)溫技術(shù),是一個(gè)從-30°C到900°C的寬溫度測(cè)量范圍的測(cè)溫儀。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) 3ILRL3U紅外測(cè)溫儀有多種溫度范圍、瞄準(zhǔn)方式、光學(xué)分辨率可選，并提供光譜響應(yīng)以滿(mǎn)足工業(yè)上特殊的應(yīng)用。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) MX4+紅外測(cè)溫儀采用了的紅外線(xiàn)測(cè)溫技術(shù),是一個(gè)從-30°C到900°C的寬溫度測(cè)量范圍的測(cè)溫儀。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) ST61紅外測(cè)溫儀具有堅(jiān)固耐用、高精度、高穩(wěn)定性、高性?xún)r(jià)比的特點(diǎn)，是工業(yè)用戶(hù)很好的檢測(cè)工具。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) ST20紅外測(cè)溫儀測(cè)量溫度范圍寬，可用做焊接紅外測(cè)溫儀，與在線(xiàn)紅外測(cè)溫儀相比有著良好的便攜性。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) 3ILTDL3U紅外測(cè)溫儀是有多種溫度范圍、瞄準(zhǔn)方式、光學(xué)分辨率可選的紅外測(cè)溫儀。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) 3ILRSCL2U紅外測(cè)溫儀是有多種溫度范圍、瞄準(zhǔn)方式、光學(xué)分辨率可選的紅外測(cè)溫儀。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) 3ILRSCU紅外測(cè)溫儀有多種溫度范圍、瞄準(zhǔn)方式、光學(xué)分辨率可選，提供光譜響應(yīng)以滿(mǎn)足工業(yè)上特殊的應(yīng)用。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) 3ILTCL3U紅外測(cè)溫儀有多種溫度范圍、瞄準(zhǔn)方式、光學(xué)分辨率可選，可提供提供光譜響應(yīng)以滿(mǎn)足工業(yè)上特殊的應(yīng)用。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) ST81紅外測(cè)溫儀是一機(jī)兩用的工業(yè)用戶(hù)普遍使用的故障診斷檢測(cè)工具。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) Marathon MR紅外測(cè)溫儀更寬的測(cè)溫范圍，更精的溫度測(cè)量，用于小目標(biāo)或移動(dòng)目標(biāo)或由于灰塵、煙霧及大氣中其他微粒遮擋的目標(biāo)的測(cè)量。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) Marathon FA紅外測(cè)溫儀使用光纖技術(shù)可克服測(cè)量過(guò)程中各種很端的環(huán)境條件。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) Marathon FR紅外測(cè)溫儀可測(cè)量處于十分惡劣的工業(yè)環(huán)境中的目標(biāo)，包括難以接近的，處于高溫的以及靠近強(qiáng)磁場(chǎng)的目標(biāo)。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) XR紅外測(cè)溫儀易于安裝、接線(xiàn)，更適用工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用，為工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程的工藝控制提供持續(xù)的溫度監(jiān)測(cè)。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) EC150紅外熱成像系統(tǒng)是一個(gè)自動(dòng)的表面檢測(cè)系統(tǒng)，能對(duì)擠出涂布、附和擠壓和復(fù)合加工過(guò)程進(jìn)行探測(cè)、測(cè)量和對(duì)出現(xiàn)的缺陷進(jìn)行分類(lèi)。

詳細(xì)摘要： 美國(guó)RAYTEK(雷泰) TIP450熱成像系統(tǒng)可提供實(shí)時(shí)的石膏板表面成像，顯示停留在干燥機(jī)上的每一塊石膏板的熱成像情況，提供石膏板質(zhì)量的綜合信息數(shù)據(jù)。