L&W OptiTopo光學粗糙度儀型號269L&W光學粗糙度儀用于測量紙張表面粗糙度并評估印刷適應性的儀器。 相較于傳統(tǒng)的光學法測定紙張表 面粗糙度的儀器，L&W OptiTopo光學粗糙度儀具有更快的速度，更好的測試方法及更高的性價比。 這一測試方法由瑞典的Innventia(原STFI)開發(fā)，在過去20年間已經被證明是一種杰出的方法，用于評估紙張表面粗糙度和印刷缺陷之間的關系。

L&W OptiTopo光學粗糙度儀型號269
L&W OptiTopo用于測量紙張表面粗糙度并評估印刷適應性的儀器。 相較于傳統(tǒng)的光學法測定紙張表 面粗糙度的儀器，它具有更快的速度，更好的測試方法及更高的性價比。 這一測試方法由瑞典的Innventia(原STFI)開發(fā)，在過去20年間已經被證明是一種杰出的方法，用于評估紙張表面粗糙度和印刷缺陷之間的關系。|總代理|代表處|代理商|辦事處|分公司|全資子公司|價格|品牌|批發(fā)|選型|維修|校準
相較于傳統(tǒng)的光學測量方法（如激光法、同焦法和色差法），L&W OptiTopo具有約20倍大的測量面積，因此可以得到更準確、更具代表性的測試結 果。L&W OptiTopo 在約10秒內檢測分析1000 mm2測試區(qū)域，測試結果將快速的顯示在觸摸屏上。其他產品：微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點儀,熱導氣體分析儀,GE流量計,OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,PPB微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃氣熱值儀,KAYE溫度驗證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點儀,干燥機露點儀,激光氣體分析儀,便攜式露點儀,便攜式微量氧分析儀西門子氧電池/OXY-12/ULTRAMAT-23代表U23氧模塊價格|PID傳感器 |總代理|代表處|代理商|辦事處|分公司|全資子公司|價格|品牌|批發(fā)|選型|維修|校準


L&W OptiTopo光學粗糙度儀測量技術
L&W OptiTopo 采用高分辨率CMOS成像系統(tǒng)在兩種不同的光照條件下對紙張表面同一區(qū)域拍攝兩張照片，借助分析紙張表面的因粗糙不平形成的地形圖。紙張樣品先由地位一側的光照系統(tǒng)照亮并成像，隨后在另一側燈光照射下成像，以漸變映向的形式展現并解析為高度圖進行下一步分析。

L&W OptiTopo光學粗糙度儀測量結果
L&W OptiTopo引入兩種新的測量結果：Crater 值和 OSD值。這兩種測試結果更能代表印刷適應 


性，同時提供更多與表面地形相關的信。Crater值評估漏 印的風險。 OSD值是在相對于傳統(tǒng)的空氣泄露法 更精細的層面上反應紙張表面粗糙度，從而評估 印刷適應性。L&W OptiTopo在不同波段計算表面地形，波動范圍從小到大。傳統(tǒng)的表面粗糙度如： PPS，本特森、針式粗糙度和謝菲爾德粗糙度都可 以通過L&W OptiTopo得到估算（需要針對不同紙 種進行校準）。紙張表面同一區(qū)域在不同光照條件下進行兩次 成 像，不同方向的光源照射產生陰影和波紋。采 用光度立體技術計算高度圖從而形成紙張表面的地形圖。
便于操作 
便于使用的觸摸屏配置有直觀的菜單和人機有好 的操作界面。觸摸屏分辨率高，響應快速，同時 表面具有保護層易于清潔且堅固耐用。耐用且持久穩(wěn)定的LED光源確保儀器需要較小的維護，且操作員自己完成簡單的維護工作。另外，實時顯示功 能 可以是調節(jié)樣品位置更加簡便，便于分析更具 代 表性的紙張表面區(qū)域。（避開那些可能導致結果失準的有缺陷的區(qū)域）。
OSD值
L&W OptiTopo光學粗糙度儀在不同波段測量 表面的地形 圖，波動范圍從大 到小。OSD值是根據小尺度表面 變化計算得來，是評估印刷適應性 的重要信息。
CRATER值 
Crater值是紙張表面存在的一定深度的凹坑的數量。得知紙張表面的凹坑的百分 比可以幫助預測柔印和凹印的印刷質 量，顯示未覆蓋區(qū)域（UCA)和漏印 點，因為紙張表面較深的凹坑將在印刷 過程中無法被油墨覆蓋。

L&W OptiTopo報告三種不同的Carter值，覆蓋市場上大多數印刷等級，Carter值的區(qū)間也可以有操作者自定義。