公司長(zhǎng)期以現(xiàn)金高價(jià)收購(gòu)各類新舊閑置的儀器儀表,涵蓋頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、手機(jī)綜測(cè)儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、多功能校準(zhǔn)儀、通信測(cè)試儀、無(wú)饋線測(cè)試儀、噪聲測(cè)試儀、信號(hào)發(fā)生器、示波器、通訊電源、直流電源、頻率計(jì)、萬(wàn)用表、NI-GPIB卡等。我們始終秉持誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)的原則,并提供上門評(píng)估與回收服務(wù),旨在幫助您解決手中閑置儀器儀表的問(wèn)題。同V——I925O538373
KEITHLEY 吉時(shí)利 2602B 是一款高性能的雙通道源表,以下是其詳細(xì)介紹:
主要特點(diǎn)
高分辨率:具有 6 位半分辨率,可精確測(cè)量和源出小信號(hào),能分辨出微小的電流和電壓變化,例如 100fA 的電流和 100nV 的電壓。
寬動(dòng)態(tài)范圍:電流范圍為 100fA 至 10A,電壓范圍為 100nV 至 40V,可滿足多種不同類型器件和材料的測(cè)試需求,從低功耗的納米器件到高功率的半導(dǎo)體器件都能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。
四象限設(shè)計(jì):能在四個(gè)象限內(nèi)工作,可作為電源輸出正或負(fù)的電壓和電流,也能作為電子負(fù)載吸收正或負(fù)的電流,適用于測(cè)試各種具有雙向特性的器件,如二極管、晶體管等。
高速 TSP 技術(shù):配備吉時(shí)利的高速測(cè)試腳本處理(TSP)技術(shù),比傳統(tǒng) PC 至儀器的通信技術(shù)快 200%,極大提高了系統(tǒng)級(jí)速度,降低了測(cè)試成本。通過(guò)在儀器內(nèi)部嵌入完整測(cè)試程序,減少了與 PC 之間的通信時(shí)間,提高了測(cè)試效率。
TSP - Link 擴(kuò)展技術(shù):TSP - Link 接口實(shí)現(xiàn)了多通道并行測(cè)試并擴(kuò)展了測(cè)試系統(tǒng),沒(méi)有主機(jī)開銷。可將多個(gè) 2602B 或其他支持 TSP - Link 的儀器連接起來(lái),實(shí)現(xiàn)高速、同步的多通道測(cè)試,方便對(duì)多引腳器件或復(fù)雜電路進(jìn)行同時(shí)測(cè)量和控制。
軟件兼容性:具有 2400 源表 SMU 軟件指令仿真,能輕松移植遺留測(cè)試代碼,方便用戶將基于 2400 源表的測(cè)試系統(tǒng)升級(jí)到 2602B,保護(hù)了用戶的前期投資和測(cè)試程序資源。
內(nèi)置測(cè)試軟件:內(nèi)建 “即插即用" 基于 Java 的 I - V 特性分析和測(cè)試軟件,方便用戶進(jìn)行臺(tái)式 I - V 特性分析測(cè)試,無(wú)需額外安裝復(fù)雜的測(cè)試軟件,通過(guò)瀏覽器即可運(yùn)行測(cè)試程序,提高了測(cè)試的便捷性和效率。
應(yīng)用場(chǎng)景
半導(dǎo)體測(cè)試:可用于晶體管、二極管、集成電路等半導(dǎo)體器件的特性測(cè)試,如測(cè)量器件的伏安特性、閾值電壓、漏電流等參數(shù),幫助工程師評(píng)估器件的性能和質(zhì)量。
材料研究:適用于各種材料的電學(xué)性能測(cè)試,如導(dǎo)電材料的電阻率測(cè)量、半導(dǎo)體材料的載流子遷移率測(cè)試等,為材料研發(fā)和質(zhì)量控制提供重要的數(shù)據(jù)支持。
電子元件測(cè)試:對(duì)電阻、電容、電感等電子元件進(jìn)行參數(shù)測(cè)量和特性分析,確保元件的性能符合設(shè)計(jì)要求,在電子電路的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)中具有重要作用。
光伏器件測(cè)試:可用于太陽(yáng)能電池、光電二極管等光伏器件的性能測(cè)試,如測(cè)量光伏器件的短路電流、開路電壓、功率點(diǎn)等參數(shù),評(píng)估光伏器件的轉(zhuǎn)換效率和性能優(yōu)劣。