陜西博微電通科技有限責(zé)任公司
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詳細(xì)摘要： BW-4022A 針對(duì)Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態(tài)參數(shù)包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)進(jìn)...
產(chǎn)品型號(hào)：BW-4022A所在地：西安市更新時(shí)間：2026-04-07 在線留言
詳細(xì)摘要： BW-4022C半導(dǎo)體綜合測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)于半導(dǎo)體器件開(kāi)發(fā)專用測(cè)試的系統(tǒng)，經(jīng)我公司產(chǎn)品升級(jí)與開(kāi)發(fā)，目前亦可以對(duì)二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件...
產(chǎn)品型號(hào)：BW-4022C所在地：西安市更新時(shí)間：2026-04-07 在線留言
詳細(xì)摘要： BW-3010B型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)"合格/不合格"(OK/NO)判斷測(cè)試，BW-3010B為各...
產(chǎn)品型號(hào)：BW-3010B所在地：西安市更新時(shí)間：2025-12-19 在線留言
詳細(xì)摘要： BW-3010A型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)"合格/不合格"(OK/NO)判斷測(cè)試，BW-3010A為各...
產(chǎn)品型號(hào)：BW-3010A所在地：西安市更新時(shí)間：2025-12-09 在線留言
詳細(xì)摘要： 可用于各類二管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗(yàn)，包括三管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的內(nèi)置二管的浪涌測(cè)試。...
產(chǎn)品型號(hào)：BW-UIS-3500所在地：西安市更新時(shí)間：2025-03-28 在線留言
詳細(xì)摘要： 可用于各類二管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗(yàn)，包括三管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的內(nèi)置二管的浪涌測(cè)試。...
產(chǎn)品型號(hào)：BW-IFSM/ITSM所在地：西安市更新時(shí)間：2025-03-28 在線留言
詳細(xì)摘要： 適用于各種封裝類型的二極管、三極管、SCR、MOSFET（支持耗盡型產(chǎn)品）、IGBT 單管、IGBT 模塊、IPM 模塊、橋堆等進(jìn)行高溫高濕反偏試驗(yàn)試驗(yàn)線路及試...
產(chǎn)品型號(hào)：BW-H3TRB-C16所在地：西安市更新時(shí)間：2024-10-12 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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