詳細(xì)介紹
華衡科器 C-SWIFT 電子背散射衍射測(cè)試模塊
C-Swift 能夠以每秒超過(guò) 2000 個(gè)標(biāo)定花樣的速度,進(jìn)行高質(zhì) 量的 EBSD 分析,同時(shí)受益于光纖提供的高靈敏度,是任何常規(guī)材料表征任務(wù)的理想探測(cè)器。
- 622 x 512 分辨率 EBSD 花樣,同時(shí)速度> 250 pps, 束流低至 300 pA⸺非常適合表征更具挑戰(zhàn)性的材料;
- 保證分析速度超過(guò) 2000 pps,僅使用 8 nA 束流 (在鋼、Ni上);
- 156 x 128 像素 EBSD 花樣分辨率,速度下提供高 質(zhì)量花樣細(xì)節(jié),實(shí)現(xiàn)可靠的相分離和出色的取向精度。
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