主要技術資料

·儀器指標:

1MHz～3GHz，以100KHz分檔

阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ

在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復性

基本精度為1%

高速測量9ms

Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確，可靠和快速測量，以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。

·生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠

安捷倫4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非?？?。此外，在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。

·系統(tǒng)組建簡單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

·便于使用

8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作夾具。