XT-50沖擊試樣缺口投影儀

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

XT-50型沖擊試樣缺口投影儀我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，對(duì)比直觀。是理化試驗(yàn)室的專用設(shè)備

二、技術(shù)參數(shù)：

1.型號(hào)：XT-50

2.投影屏直徑：180mm

3.工作臺(tái)尺寸：110×125mm

4.圓工作臺(tái)直徑： 90mm

5.工作臺(tái)玻璃直徑：70mm

6.工作臺(tái)行程：縱向±10mm橫向±10mm升降±12mm（無刻度）

7.工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍 ：0~360°（無刻度）

8.儀器放大倍率 ：50X

9.物鏡放大倍率 ：2.5X

10.投影物鏡放大倍率 ：20X

11.光源（鹵鎢燈）：12V    100W

12.電源：220V    50Hz

13.外形尺寸 ：515×224×603mm（長(zhǎng)×寬×高）

14.重量：約18Kg