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參考價	面議

產品簡介

EPK MiniTest 730涂層測厚儀具有創(chuàng)新的SIDSP探頭內部數(shù)字信號處理技術，提升了測量的精確性，測量范圍達15mm，精度1μm或5μm，分辨率0.05μm、0.1μm、1μm，可以解決您所有涂層厚度問題。

詳細介紹

Elektrophysik德國EPK MiniTest 700系列涂層測厚儀可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數(shù)值，也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應的模式就可以做到。EPK730涂鍍層測厚儀創(chuàng)新的SIDSP（探頭內部數(shù)字信號處理）技術提升了測量的精確性，測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用，操作方便不易出錯。

MINITEST 700 系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內置探頭的EPK 720涂層測厚儀；EPK 730測厚儀則是外置探頭的；EPK740型號探頭內置外置可換。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏，顯示內容可以180度旋轉，方便您讀取數(shù)據(jù)。

EPK MINITEST 700涂層測厚儀優(yōu)勢特點

SIDSP探頭技術使測量不受干擾，測值更加精確

可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740 探頭可由內置換為外置）

FN 探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤

溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤

生產過程中50 點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線

大存儲量，能存儲10 或100 組多達100,000 個讀數(shù)

讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調出，超大背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉

EPK730涂層測厚儀菜單指引操作，25 種語言可選

帶IrDA 接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC，可下載更新軟件

MiniTest 700系列涂層測厚儀主機技術參數(shù)

主機型號	MiniTest 720涂層測厚儀	MiniTest 730測厚儀	MiniTest 740
探頭類型	內置探頭	外置探頭	探頭內置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10組	10組	100組
存儲數(shù)據(jù)量	最多10,000個	最多10,000個	最多100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)、最小值、值、平均值、標準方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)
校準模式	出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	μm、mm、cm；mils、inch、thou

EPK 700系列涂層測厚儀SIDSP探頭型號規(guī)格表

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
探頭特性	F型	N型	F型	F型	N型	F型
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
精確度	±（1μm+0.75%讀數(shù)）		±（1.5μm+0.75%讀數(shù)）			±（5μm+0.75%讀數(shù)）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀數(shù)）		±（0.8μm+0.5%讀數(shù)）			±（2.5μm+0.5%讀數(shù)）
最小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
最小曲率半徑（凹）	外置探頭7.5mm，內置30mm		外置10mm，內置探頭30mm			外置25mm，內置30mm
最小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
最小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
測量速度	連續(xù)模式下測量速度每秒20個讀數(shù)，單值模式下測量速度每分鐘70個探頭內部32位信號處理（SIDSP）