Ultim Max TLE

我們TEM的旗艦款SDD能譜探測器，經(jīng)過設(shè)計優(yōu)化，提高了小束斑下的計數(shù)率，可表征原子尺度的元素信息。

這一性能是通過優(yōu)化的晶體形狀，100mm2大面積晶體，無窗結(jié)構(gòu)，優(yōu)化的機械設(shè)計和Extreme級電子元器件來實現(xiàn)的。

0.5 - 1.1srad的立體角

對低能量x射線的靈敏度可提高8倍

可在400,000cps的計數(shù)率下進行定量分析

在原位實驗中，在高至1000°C的溫度下采集譜圖

Ultim Max TEM

用于納米尺度分析和元素面分布的SDD能譜探測器。

在任何情況下，使用新型的中端80mm2傳感器都能更接近樣品，提供更多的X射線計數(shù)。結(jié)合了無窗設(shè)計和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

0.2 - 0.6 srad的立體角

對低能量x射線的靈敏度可提高8倍

可在400,000cps的計數(shù)率下進行定量分析

在原位實驗中，在高至1000°C的溫度下采集譜圖

Xplore TEM

專門為120kV和200kV TEM的常規(guī)應用而設(shè)計的SDD能譜探測器。

使用新的 80 mm2 傳感器，聚合物薄窗口和低噪音電子元器件 , 提供快速和準確的元素表征。

0.1 - 0.4 srad的立體角

從Be到Cf的元素檢測

可在200,000cps的計數(shù)率下進行定量分析

SATW窗口為廣泛的應用提供了更大的便利性

售后服務

免費上門安裝：否

保修期：詳詢工程師

是否可延長保修期：是

保內(nèi)維修承諾：詳詢工程師

報修承諾：詳詢工程師

免費儀器保養(yǎng)：詳詢工程師

免費培訓：詳詢工程師

現(xiàn)場技術(shù)咨詢：有