◆ 高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像

 HAADF-STEM圖像0.136 nm，F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)

 HAADF-STEM圖像0.144 nm(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)

 明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)

◆ 高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍

 元素面分布更迅速及時

 低濃度元素檢測

◆ 操作簡化

 自動圖像對中功能

◆ 從樣品制備到觀察分析實(shí)現(xiàn)無縫連接

 樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容

◆ 配有各種選購件可執(zhí)行各種評估和分析操作

 同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。

 低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至低)

 高精度放大校準(zhǔn)和測量*

 實(shí)時衍射單元*(同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)

 采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿(360度旋轉(zhuǎn))*，具有自動傾斜圖像獲取功能。

 ELV-3000即時元素面分布系統(tǒng)*(同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像)

◆ HD-2700球差校正掃描式透射電子顯微鏡