紫外可見分光光度計(jì)UV757CRT 介紹：


UV757系列紫外可見分光光度計(jì)能在紫外、可見光譜區(qū)域內(nèi)對樣品物質(zhì)作定性和定量的分析。該產(chǎn)品可廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥衛(wèi)生、臨床檢驗(yàn)、生物化學(xué)、石油化工、環(huán)境保護(hù)、質(zhì)量控制等部門，使理化實(shí)驗(yàn)室常用的分析儀器之一。

主機(jī)功能：

采用微機(jī)測量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換精確，自動調(diào)整0%（T）和調(diào)整99%（T），具有GOTOλ，自動8聯(lián)樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點(diǎn)標(biāo)定，斜率和截距設(shè)置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機(jī)，另行選配）。

紫外可見分光光度計(jì)UV757CRT 聯(lián)機(jī)功能：

通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴(kuò)展測試功能（除主機(jī)功能外）。

UV757CRT 附帶電腦，打印機(jī)。

技術(shù)指標(biāo)：

波長范圍：200nm～1000nm

光源：鎢鹵素?zé)?2V20W（進(jìn)口） DD2.5氘燈（進(jìn)口）

接收元件：光電池

波長大允許誤差：±0.5nm

波長重復(fù)性：≤0.2nm

光譜帶寬：2nm

雜散光：≤0.3%（T）（在220nm以Nal測定和340nm處以NaNO2測定）

透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% （T）

吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000（A）

透射比大允許誤差：±0.5%（T）

透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）

噪聲：99%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%（T）

穩(wěn)定性：≤0.004A/30min

其它：

電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz