美國(guó)CRAIC發(fā)布的20/30PV顯微光譜分析集成系統(tǒng)為紫外-可見-近紅外顯微光譜學(xué)設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。使用技術(shù)的20/30 PV不僅可以讓用戶測(cè)試微米級(jí)樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類型下的光譜，還同時(shí)提供了數(shù)字成像功能。美國(guó)CRAIC 20/30 顯微分光光度計(jì)系統(tǒng)，結(jié)合了顯微學(xué)和光譜學(xué)的優(yōu)勢(shì)，用于微小樣品或樣品的微小區(qū)域的光譜分析；微區(qū)光譜測(cè)試的范圍從深紫外到近紅外，同時(shí)也提供全波段的成像。具備的光譜及圖像分析軟件、自動(dòng)化的參數(shù)設(shè)置、簡(jiǎn)單易用、能長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定工作等優(yōu)良特性。20/30 PV是微區(qū)科研以及實(shí)驗(yàn)室樣品分析的工具。

    CRAIC 20/30 PV集成了紫外－可見－近紅外光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統(tǒng)于一身，根據(jù)產(chǎn)品不同，可以做紫外可見近紅外（200-2500nm）的光譜分析，還可以集成顯微Raman系統(tǒng)，同時(shí)科研級(jí)光譜儀和高分辨彩色數(shù)字成像系統(tǒng)都使用了的顯微鏡光路系統(tǒng)及科研級(jí)光學(xué)接口。

     高靈敏度的固態(tài)陣列檢測(cè)器件使用了熱電制冷的方式提高了器件的信噪比，增強(qiáng)穩(wěn)定性,并保證設(shè)備能長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定地工作；高分辨率的數(shù)字成像系統(tǒng)在用于紫外、近紅外以及可見光波段的彩色成像。多種類型的光源包提供了從深紫外到近紅外的光源，類型包括透射光、反射光、熒光等，偏振光和拉曼激光也可以根據(jù)用戶需求提供。CRAIC精巧的軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng)，還同時(shí)提供了分析功能，甚至包括薄膜厚度測(cè)量及色度測(cè)量。CRAIC公司推出的操作系統(tǒng)，應(yīng)用軟件使用簡(jiǎn)單，操作方便。

  20/30PV系列為顯微觀測(cè)、材料科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、生物科學(xué)及制藥、表面等離子共振，法醫(yī)痕跡鑒證，石墨烯及納米管等領(lǐng)域提供的顯微光譜分析方案，20/30 PV是顯微分光光度計(jì)的代表。

主要技術(shù)參數(shù)

微區(qū)光譜范圍：200-2500nm

最小取樣面積：≤1um2

熒光光譜范圍：300-1000nm

高分辨率成像：深紫外-近紅外

光譜分辨率：1-15nm(可選）

探測(cè)器類型：CCD和InGaAs陣列

制冷;TE制冷

全譜掃描時(shí)間：≤14ms

可編程平臺(tái)帶光譜繪圖：可實(shí)現(xiàn)

全自動(dòng)控制：可實(shí)現(xiàn)

操作系統(tǒng)：Win7 Pro或Win 8