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詳細摘要： 型號 Nikon ECLIPSE Ts2倒置顯微鏡簡介 ECLIPSE Ts2倒置顯微鏡利用尼康行業(yè)的CFI60光學系統(tǒng)，和用于透射和落射熒光成像的LED照明，...

詳細摘要： 型號 Axio Observer簡介 用于材料檢驗、開發(fā)和分析的倒置顯微鏡

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詳細摘要： 型號 MarSurf CM 簡介 便攜式 3D 表面測量儀器，用于生產環(huán)境 – 非接觸，與材料無關，而且速度快.

詳細摘要： 型號 MarSurf WI 100簡介 MarSurf WI 100 是一臺*的表面分析儀，用于表面的三維測量和分析 - 非接觸，與材料無關，而且速度快.

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詳細摘要： 型號 3Flex簡介 美國麥克儀器公司的3Flex材料表面表征分析儀設計用于測量從微孔到介孔全范圍的孔徑分析，可實現三站同時微孔介孔分析，并可測量相對壓力低至1...

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