功能特征
ICT-33C集成電路測(cè)試儀:
可測(cè)1300種器件.
可對(duì)器件好壞判別,型號(hào)判別,老化測(cè)試,
器件代換查詢,內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,
EPROM、EEPROM器件讀出寫(xiě)入. 
功 能 參 數(shù)
主要功能
器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。
器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型號(hào)。
器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致、引腳排列一致的器件型號(hào)。
內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT?/FONT>33C可從鍵盤(pán)對(duì)自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
EPROM、EEPROM器件讀入：ICT?/FONT>33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。
EPROM、EEPROM器件寫(xiě)入：ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動(dòng)校驗(yàn)。
 
可 測(cè) 器 件（1300多種）
CMOS40系列：103種。
CMOSMC140系列：103種。
CMOS45系列：60種。
CMOSMC145系列：60種。
光耦合器系列：133種。
TTL74/54系列：714種。
TTL75/55系列：82種。
數(shù)碼管系列：
0.5吋共陽(yáng)[001]；共陰[002]；0.3吋共陽(yáng)[003]；共陰[004]；0.7吋共陽(yáng)[005]；共陰[006]。
常用RAM系列：
6 60256 628128
EEPROM系列：
2816 28256 28040 29101
EPROM系列：
2716 27128 27256 27512
微機(jī)外圍電路系列：
Z8OCTC(8O2)
常用單片機(jī)系列：

其他系列：
1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506