AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器模擬電路檢定

這是一個模擬世界。 所有物理量均使用模擬信號捕獲和表示。 因此，需要檢定放大器、濾波器和轉(zhuǎn)換器等模擬電路的性能。

• InstaView™ 技術(shù)避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不確定性

• 頻率范圍為 25 MHz 至 250 MHz

• 由于信號保真度高，無需使用外部濾波器或衰減器

• 由于具有頻率捷變特性且正弦波平坦度經(jīng)過校準(zhǔn)，頻率響應(yīng)測試可以輕松完成

AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器真實場景信號復(fù)制

傳感器廣泛用于幾乎所有現(xiàn)代化電子設(shè)計領(lǐng)域，從汽車到再到電子消費品。 迄今為止，使用 AFG 捕獲波形并進(jìn)行復(fù)制以便排除故障或驗證一直是挑戰(zhàn)的過程。

• ArbBuilder 可直接導(dǎo)入多個泰克示波器產(chǎn)品系列保存的 csv 格式的波形

• 高達(dá) 128 M 點的任意內(nèi)存極大地增加了信號的長度

• 低噪音本底使信號更為清晰

AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器函數(shù)驗證和性能檢定

在產(chǎn)品上市前，測試工程師必須進(jìn)行大量測試用例，確保產(chǎn)品滿足技術(shù)規(guī)格。 但是，此過程比較耗時且重復(fù)。

• 可編程，實現(xiàn)自動測試和手動測試的直觀用戶界面

• 波形序列使用戶在一個序列中序列化所有測試程序

• 靈活的重復(fù)跳轉(zhuǎn)方法保證高效率

• 高達(dá) 128 M 點的任意內(nèi)存和內(nèi)置非易失性閃存存儲所有波形和測試程序

AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器系統(tǒng)與時鐘或脈沖同步

數(shù)字設(shè)計中的所有電路部分按照時鐘速度同時工作。大系統(tǒng)中的所有設(shè)備必須與觸發(fā)信號協(xié)調(diào)，以確保它們正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成時鐘和觸發(fā)脈沖的有效方法。

• 脈沖/方波頻率范圍高達(dá) 160 MHz

• 頻率捷變實現(xiàn)時鐘不同速率的無縫切換

• 易用的向?qū)дf明指導(dǎo)您完成多臺設(shè)備的同步過程以便增加通道數(shù)

• 低抖動水平，讓您在觸發(fā)系統(tǒng)時更加自信

AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器雙脈沖測試

雙脈沖測試是一種用于測量開關(guān)器件參數(shù)和評估 MOSFET 和 IGBT等功率器件動態(tài)性能的方法。雙脈沖測試可測量開啟參數(shù)、關(guān)閉參數(shù)和反向恢復(fù)參數(shù)。

執(zhí)行此測試可：

• 確保MOSFET 和 IGBT 等功率器件滿足產(chǎn)品規(guī)格書中的規(guī)格

• 確認(rèn)功率器件或電源模塊的實際值或偏差

• 在各種負(fù)載條件下測量這些開關(guān)器件的參數(shù)，并在多個設(shè)備上驗證性能

AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器高級研究和教育

研究人員和教師需要大量信號才能完成研究和教學(xué)工作。 測試可以像一系列的脈沖一樣簡單，模擬 Geiger-Muller 計數(shù)器的輸出，或者像一個長基帶 IQ 一樣復(fù)雜。

• InstaView™ 技術(shù)避免因連接復(fù)雜負(fù)載上增加輸出波型的不確定性

• 整合多種特性與功能

• 雙工作模式均衡易用性和靈活性以便生成最復(fù)雜波形

• 內(nèi)置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和編輯任意波形