通過配置ISR-2600雙檢測器積分球，將傳統(tǒng)儀器模式下的300 nm ～ 1100 nm波長范圍擴展至1400nm。因此，UV-2600可進行太陽能電池防反射膜和多晶硅硅片的測量。

右圖：寬測定波長范圍

此圖是多晶硅樣品的透過率譜圖，由于系統(tǒng)具有測定到1400nm的能力，清晰顯示了帶隙區(qū)域（1000nm附近）的透過率特征。

此圖是減反膜的反射率譜圖。使用相對反射附件，系統(tǒng)可以實現(xiàn)從深紫外到近紅外區(qū)域的測定，可清晰顯示在可見區(qū)被抑制的反射率。

UV-2700實現(xiàn)了超低雜散光，擴展測定范圍至8Abs，透過率0.000001%。除了測定高濃度樣品不需要稀釋外，此系統(tǒng)還能用于評價偏振膜的透過率性能。

溶液濃度和吸光度的線性曲線。直到8Abs都有好的線性。

使用島津技術(shù)的Lo-Ray-Ligh等級衍射光柵使UV-2700具有高的精度。在衍射光柵生產(chǎn)過程中，新的生產(chǎn)方法應(yīng)用到島津全息光柵技術(shù)上。通過優(yōu)化蝕刻工藝，在保持高效率的同時，我們成功生產(chǎn)出超低雜散光的衍射光柵。在使用配備Lo-Ray-Ligh

等級衍射光柵的光學系統(tǒng)，UV-2700達到了超低雜散光水平。