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高溫反偏試驗系統(tǒng)（HTRB)

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更新時間：2023-10-21 17:14:15瀏覽次數(shù)：485

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產(chǎn)品簡介

高溫反偏試驗系統(tǒng)（HTRB) AS-HTRB系列高溫反偏測試系統(tǒng)用于評估封裝工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）。適用于各種封裝形式的Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件在高溫環(huán)境下進行反向偏壓試驗。 ......

詳細介紹

產(chǎn)品型號AS-HTRB-C16AS-HTRB-H8AS-HTRB-H8-MAS-HTRB-M8
箱體尺寸
試驗箱內(nèi)容積升（L)216
內(nèi)箱尺寸W×H×D mm
寬（W)		600 X 600 X 600
外箱尺寸W×H×D mm1360×1815×1320
技術(shù)參數(shù)
適用器件二極管、三極管、場效應(yīng)管等Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件全橋二極管、三極管、場效應(yīng)管等
高溫溫度范圍RT+10~200℃
試驗電源≤1200V≤2000V≥2000V≤1200V
電源數(shù)量根據(jù)客戶需求提供≤8臺
老化板可按客戶的器件封裝定制老化板。


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