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AS-HTRB-F16更多老化試驗系統 詳細摘要： AS-HTRB-F16AS-HTRB系列高溫反偏測試系統用于評估封裝工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）。...
產品型號： 所在地：蘇州市 更新時間：2025-05-13 參考價： 面議 在線留言 -
AS-HTRB-B16更多老化試驗系統 詳細摘要： AS-HTRB-B16用于評估分立器件工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）的一種可靠性試驗。產品特.......
產品型號： 所在地：蘇州市 更新時間：2025-05-13 參考價： 面議 在線留言 -
AS-H3TRB-C16更多老化試驗系統 詳細摘要： AS-H3TRB-C16一種用于評估分立半導體器件在高溫，高濕，偏壓條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價器件外觀的寢蝕。產品特點 ......
產品型號： 所在地：蘇州市 更新時間：2025-05-13 參考價： 面議 在線留言 -
AS-H3TRB-H8（模塊專用） 詳細摘要： AS-H3TRB-H8（模塊專用）適用的第三代半導體的研發(fā)和工藝改進1、高溫擴散工藝技術的改進，包括可能引起硅片內部隱裂的工藝技術改進2、包封工藝技術、框架處理...
產品型號： 所在地：蘇州市 更新時間：2025-05-04 參考價： 面議 在線留言