產(chǎn)品介紹：

CY/P-B3不銹鋼鍍鉻三點(diǎn)式試塊：符合 JB/T 6064-2006及JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)（B3）

用于各靈敏度級(jí)別著色，熒光滲透探傷的質(zhì)量控制。

CY/P-B5 不銹鋼鍍鉻五點(diǎn)式試塊：符合JB/T6064-2006標(biāo)準(zhǔn)（B5），主要用于高靈敏度

及超高靈敏度級(jí)別熒光探傷線的質(zhì)量控制。

CY/P-B6不銹鋼鍍鉻六點(diǎn)式試塊：在同一塊試塊上制作2組基本對(duì)稱的大、中、小輻射裂

紋，裂紋分布符合JB/T 6064-2006及JB/T4730-2005,可代替鋁合金對(duì)比試塊用。