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詳細(xì)介紹
典型應(yīng)用場景
遠(yuǎn)方OLED-4000 高低溫老化壽命光學(xué)特性測量系統(tǒng)是針對高低溫環(huán)境下OLED顯示屏的綜合測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)適用于高低溫環(huán)境下OLED顯示屏亮度色度分布、IVL、老化特性的精確測量，并配備成熟的測量軟件。該系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，采用成熟技術(shù)，保證系統(tǒng)具有良好的動態(tài)品質(zhì)；所選控制系統(tǒng)執(zhí)行元件精度高，可靠性好，響應(yīng)速度快；設(shè)備使用、操作、維修方便，造型美觀，結(jié)構(gòu)緊湊，整機(jī)運(yùn)行穩(wěn)定可靠，售后服務(wù)優(yōu)良。
主要特點(diǎn)
步入式暗箱一體化設(shè)計(jì)，方便操作節(jié)省空間。
8通道獨(dú)立控溫，適用于多片OLED模塊的加速老化壽命同時(shí)測試。
配備高性能光譜亮度計(jì)，實(shí)現(xiàn)光色的高穩(wěn)定度、高重復(fù)性測試。
系統(tǒng)配備成熟的測量軟件，實(shí)現(xiàn)高穩(wěn)定性自動化測量。
系統(tǒng)可搭載成像亮度計(jì)實(shí)現(xiàn)快速亮色度均勻性及顯示缺陷測量。
主要技術(shù)指標(biāo)
| 型 號 | OLED-4000 |
| X-Y-Z行程與精度 | 移動精度：0.1mm；分辨率：0.01mm |
| 測試容量兼容尺寸 | 32寸：8個(gè) 或 21.6寸：8個(gè) |
| 軟件處理方式 | IVL測試：電壓、電流密度、亮度、外量子效率、電流效率、發(fā)光效率、色坐標(biāo)、光譜等參數(shù)以及IVL相關(guān)變化曲線； 光學(xué)分布測試：不同點(diǎn)位處下OLED發(fā)光的亮度、色度、光譜分布； 壽命測試：測試三種模式下（恒壓模式、恒流模式、恒亮度模式）的預(yù)估壽命、亮度隨時(shí)間的衰減比例曲線、電壓隨時(shí)間衰減曲線、電流隨時(shí)間衰減曲線； |
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