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詳細(xì)介紹
典型應(yīng)用場景
CXS系列光譜成像彩色亮度計(jì)（也稱光譜亮度計(jì)或分光輻射亮度計(jì)）集光譜成像于一體，精確匹配CIE1931的配色函數(shù)，可實(shí)現(xiàn)光譜和二維亮度及色度均勻性的測量，可廣泛應(yīng)用于LCD、OLED、投影顯示等領(lǐng)域。穩(wěn)定性和復(fù)現(xiàn)性好，不僅適用于實(shí)驗(yàn)室測量，也可應(yīng)用于生產(chǎn)線中光學(xué)品質(zhì)控制。
主要特點(diǎn)
一次取樣，即得光色均勻性信息
采用科學(xué)級恒溫制冷面陣探測器，且探測器光譜響應(yīng)高度匹配人眼三刺激值曲線，一次測量相當(dāng)于千萬個描點(diǎn)式亮度計(jì)同時工作，能夠快速準(zhǔn)確獲得視場內(nèi)各點(diǎn)的亮度及色度數(shù)據(jù)，并分析均勻性。
低亮度、高重復(fù)性測量
噪聲是影響測量靈敏度、穩(wěn)定性和重復(fù)性的重要因素，而噪聲的主要來源是探測器溫度，CXS-2120能實(shí)現(xiàn)更低的恒溫制冷溫度，配合專業(yè)的噪聲電路設(shè)計(jì)，即使在低亮度下，仍能保證高測量重復(fù)性和穩(wěn)定性。
的人工智能算法，助力實(shí)現(xiàn)各種測量分析
兼容智能圖像識別等多種算法，可面向各種測量對象（如異形屏、曲面屏），根據(jù)客戶需求制定亮度和色度均勻性分析功能，支持顯示屏的缺陷（MURA）評估功能。
集成高精度光譜儀，提供精確光譜測量
內(nèi)部集成高精度光譜儀，可提供精確的光譜、色坐標(biāo)、主波長、色溫、顯色指數(shù)等測量參數(shù)，進(jìn)而從更多維度評估被測產(chǎn)品的質(zhì)量。
主要技術(shù)指標(biāo)
| 型 號 | CXS-2120 |
| 光譜波長范圍 | 380 nm-780 nm |
| 光譜波長準(zhǔn)確度 | ±0.3 nm |
| 亮度測量范圍 | 0.01 cd/m2- 10? cd/m2(特殊可定制) |
| 亮度測試精度 | ±3% |
| 亮度測試重復(fù)性 | 0.001 |
| 色度測試精度 | ±0.003 |
| 色度測試重復(fù)性 | 0.0002 |
| 視場角 | 約22°(水平)×16°(垂直) |
| 測試距離 | 0.3 米至無窮大 |
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