? 分辨率成像—無論何時，不論哪次

? 高帶寬，從而快速掃描，觀察實時變化

? 潛力無限—極其靈活的開放式架構

? 獲得面的納米尺度的定量特性參數(shù)

? 超乎想象的簡單

分辨率成像— 無論何時，不論哪次

FastScan 和 PeakForce Tapping® 實現(xiàn)了力的實時測量與線性控制。

輕易分辨 DNA小溝結構。

點缺陷 的高分辨三維尺寸和機械性能成像— 不只是堅硬的、平坦的晶體。

在樣品上每個原子實現(xiàn) 力掃描。

To maximize lateral resolution, stay close but not too close. PeakForce Tapping uniquely allows you to do this. See Physical Review B 56(7), 4159, 1992 LINK , and Chemical Review 88, 927 (1988) LINK for the detailed modeling of the tip-sample interaction.

推動 石墨烯、鈣鈦礦等二維材料的研究。

PeakForce QNM® modulus images of graphene on hexagonal boron nitride, revealing a transition to a commensurate lattice upon alignment with highly localized strain relief. See also Nature Physics 10, 451–456 (2014). LINK

高帶寬，從而快速掃描，觀察實時變化

高帶寬，從而快速掃描，觀察實時變化

記錄高速的納米尺度動力學現(xiàn)象。

測量具有挑戰(zhàn)性的形貌。

同時具備速度和穩(wěn)定性。

的原子力顯微鏡 —與樣品尺寸無關。

Increase scan speed on even the high-resolution Icon head with Fast Tapping.

潛力無限—極其靈活的開放式架構

全面的環(huán)境控制方案，用于電池、有機太陽能等領域。

首先使用已有的測量模式;如果沒有，創(chuàng)造一個。

直接控制軟件和硬件，選擇一個最容易的方法：串行通訊端口，信號測試盒，Nanoman/Litho和力腳本等。

在開放的平臺上直接進行改造，與其它技術聯(lián)用。

獲得面的納米尺度的定量特性參數(shù)

重新定位您的期望。

Nanoscale viscoelastic characterization with high confidence.

常規(guī)地獲得高質量力學性能數(shù)據(jù)。

在之前不可能研究的樣品上研究電學性能。

獲取整體力學數(shù)據(jù)，從而全面表征接觸力學機制。

實時研究原子化學信息。

超乎想象的簡單

專注于您的研究。

硬件，軟件和控制算法，讓您立即成為專家。

NanoScope®被認可的，被引用最多的原子力顯微鏡。

的儀器檢測性能

? 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調節(jié)和檢測器調節(jié)，智能進針，大大縮短了實驗時間。

? 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)結合，大幅提高了實驗數(shù)據(jù)的可信度和可重復性。

的測量分辨率

? Fastscan精確的力控制模式提高了圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。

? 掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。

? 低噪音，溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。

全面的測試功能，適用于各類AFM樣品

? 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描器極大的降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實圖像。

? Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證掃描過程中從埃級到0.1μm的高精度無失真掃描。

不論您選擇Icon掃描器獲得超低噪音和超高分辨率的圖像，還是選擇Dimension FastScan AFM的掃描器進行高速掃描檢測，Dimension FastScan AFM系統(tǒng)都會幫助您將儀器的功能開發(fā)到，實現(xiàn)其它單一模式的儀器所達不到的效果。