低溫試驗箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗、低溫恒溫及儲存；低溫試驗箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗。特點： 操作簡單易學(xué)，功能*； 具有2重PID控制功能，自動調(diào)整、線路損壞報警、傳感器斷線報警； 送風(fēng)循環(huán)設(shè)計，溫度分布均勻性佳； 具有自動防霜裝置的真空雙重玻璃，可清晰觀察試驗箱內(nèi)的試品執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn) GB/T1058

低溫試驗箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗、低溫恒溫及儲存；
低溫試驗箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗。
特點：
操作簡單易學(xué)，功能*；
具有2重PID控制功能，自動調(diào)整、線路損壞報警、傳感器斷線報警；
送風(fēng)循環(huán)設(shè)計，溫度分布均勻性佳；
具有自動防霜裝置的真空雙重玻璃，可清晰觀察試驗箱內(nèi)的試品
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗A規(guī)程: 低溫試驗方法
GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗B規(guī)程: 高溫試驗方法
GJB150.3-1986高溫試驗
GJB150.4-1986低溫試驗

用途

• 低溫試驗箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗、低溫恒溫及儲存；
  
• 低溫試驗箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗。

型　號		HWD2005	HWD201	HWD202	HWD205	HWD210
內(nèi)容積		50L	130L	210L	500L	1000L
內(nèi)部尺寸(cm)		30×35×50	40×50×65	50×60×70	70×80×90	100×100×100
外部尺寸(cm)		77×55×142	111×93×151	114×103×156	134×123×176	164×143×186
性 能	循環(huán)方式	強(qiáng)制空氣循環(huán)
	溫度范圍	-20～+100℃(150℃) / -40～+100℃(150℃) / -70～+100℃(150℃)
	溫度波動度	±0.5℃
	溫度均勻度	≤±2°C
	升溫時間	-20℃～+100℃約80分鐘 / -40℃～+100℃約90分鐘 / -70℃～+100℃約90分鐘
	降溫時間	+20℃～-20℃約60分鐘 /+20℃～-40℃約70分鐘 / +20℃～-70℃約90分鐘
材 料	外殼材料	SUS304拉絲不銹鋼板或A3板噴塑
	內(nèi)箱材料	SUS304鏡面不銹鋼板
	隔熱材料	高密度聚氨酯泡沫 +玻璃纖維
	觀察窗	發(fā)熱體內(nèi)嵌式玻璃
	電纜孔	內(nèi)徑Φ50
	加熱器	鎳鉻合金電加熱器
	攪拌風(fēng)機(jī)	多翼式離心風(fēng)機(jī)
	馬達(dá)	冷凝器型
	溫度傳感器	PT100或T型熱電偶
	腳輪	帶制動的活動腳輪 4個
控制系統(tǒng)	溫度控制器	進(jìn)口智能溫度控制器
	溫度設(shè)定方式	按上下鍵設(shè)定數(shù)字
	溫度顯示方式	LCD數(shù)字顯示
冷凍系統(tǒng)	制冷方式	機(jī)械式單極壓縮機(jī)制冷 / 機(jī)械二元復(fù)疊壓縮機(jī)制冷(風(fēng)冷冷凝器)
	制冷機(jī)	法國泰康全封閉壓縮機(jī)組或德國谷輪半封閉壓縮機(jī)組
	制冷劑	R507 / 環(huán)保冷媒R404A+R23
	冷凝器	翅片式換熱器
	蒸發(fā)器	翅片管蒸發(fā)器
使用環(huán)境溫度		?。?～＋35℃
電源		AC380 ± 10V　　 50± 0.5Hz　　 三相五線制
功率		2kw	3kw	3.5kw	5kw	7kw
附件		φ50mm測試孔蓋一個，擱板兩塊，擱條四根，照明燈（熒光燈）一盞
選配附件		通訊接口，打印機(jī)．記錄儀．遠(yuǎn)程監(jiān)控計算機(jī)及軟件，LCD液晶觸摸屏程序控制器
安全裝置		獨立超溫保護(hù),過電流斷路器，壓縮機(jī)過載保護(hù)開關(guān)、超壓、過熱保護(hù)
注： 以上產(chǎn)品外尺寸不包含突出部分，產(chǎn)品尺寸可按客戶要求定做； 以上技術(shù)參數(shù)在室溫20℃，無負(fù)荷條件下測得的數(shù)據(jù)。