高溫測試儀|GDW-50A產(chǎn)品特點(diǎn)：
高低溫試驗(yàn)機(jī)適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高低溫試驗(yàn)，低溫恒溫及儲存。

技術(shù)參數(shù)介紹：
型號：GDW-50A(B/C)
工作室尺寸：mm：400×350×400
外型尺寸：mm：820×710×1400
電壓/功率：A型：220V/2KW|B型：220V/2.5KW|C型：220V/4KW
溫度范圍：A型：-20℃～+150℃|B型：-40℃～+150℃|C型：-70℃～+150℃
波動度/均勻度：≤±0.5℃/≤2℃
升溫速率：1.0～3.0℃/min
降溫速率：0.7～1.0℃/min
外箱材料：高低溫試驗(yàn)箱采用優(yōu)質(zhì)A3鋼板靜電噴塑/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理
內(nèi)箱材料：進(jìn)口優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼板
保溫材料：超細(xì)玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡
箱門密封：雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅 膠密封條
控制儀：日本進(jìn)口“富士"儀表
溫度傳感器：鉑金電阻PT100Ω/MV

精度范圍：高低溫試驗(yàn)箱溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
循環(huán)系統(tǒng)：耐溫低噪音型電機(jī)，單循環(huán)、加長 軸、不銹鋼多葉式離心風(fēng)葉
加熱方式：鎳鉻合金電加熱式加熱器
冷卻器：法國“泰康"多級膜片式蒸發(fā)器
制冷方式：高低溫試驗(yàn)箱采用單元制冷方式/雙元(復(fù)疊)制冷方式（風(fēng)冷）
壓縮機(jī)：法國“泰康"全封閉制冷壓縮機(jī)/法國“泰康"全封閉制冷壓縮機(jī)組
定時功能：0.1～99.99（S、M、H）
安保裝置：電源超載、漏電、接地、超溫保護(hù)（帶聲訊提示）、快速保險(xiǎn)絲、壓縮機(jī)過壓保護(hù)
標(biāo)準(zhǔn)配置：高低溫試驗(yàn)箱耐高、低溫鋼化玻璃內(nèi)熱式中空玻璃觀察窗：220×180(mm)一個, 照明燈一只，測試引線孔￠50mm一個，樣品架2付， 帶腳輪
電源電壓：AC220V50HZ/380V50HZ
使用環(huán)境溫度：15℃～＋30℃ ≤85％R.H
可選配件：控制儀：韓國進(jìn)口“TEMI360"智能可編程控制器/“TEMI880"觸摸屏控制器 （選配件，訂購時需另外收費(fèi)）

高溫測試儀|GDW-50A注：
1、“GDW"為高低溫試驗(yàn)箱型號。
2、技術(shù)參數(shù)均在環(huán)境溫度≤25℃.工作室空載條件下測得。
3、以上為標(biāo)準(zhǔn)型試驗(yàn)箱，可根據(jù)用戶的具體要求定做非標(biāo)型。
4、可根據(jù)用戶的具體要求定做非標(biāo)型“高低溫試驗(yàn)室"。
5、外形尺寸的高度不含箱體底部腳輪高度。

設(shè)備結(jié)構(gòu)
高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。
試驗(yàn)箱體設(shè)計(jì)，采用數(shù)控機(jī)床加工成型，并采用無反作用把手，操作容易。
箱門密封采用精制硅橡膠，從而在高、低溫下不存在老化及硬化現(xiàn)象。
內(nèi)膽為進(jìn)口SUS304不銹鋼板，外殼為A3板噴塑處理，更顯光潔、美觀。
保溫系統(tǒng)采用超細(xì)玻璃纖維或硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡填充保溫區(qū)，以保證箱體內(nèi)部溫度。
溫度控制采用進(jìn)口儀表，高低溫試驗(yàn)箱具有P.I.D自動演算的功能，人性化設(shè)計(jì)的操作方法，易學(xué)易用。
獨(dú)立的加溫與制冷系統(tǒng)使設(shè)備更有效的提高升溫、降溫、效率。
制冷系統(tǒng)為全自動控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。
采用多翼式強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
空氣循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回溫時間快。

高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-2001：電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程|試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001：電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程|試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程|高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則