Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡在qiangzhi事件中，qiang擊殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR" 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜識(shí)別在該粒子中的元素。Z常見(jiàn)的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè)，例如 Ti 和 Zn 也可Z為搜索條件進(jìn)行搜索。

Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡在qiangzhi事件中，qiangzhi殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識(shí)別在該粒子中的元素。 常見(jiàn)的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè)，例如 Ti 和 Zn 也可 為搜索條件進(jìn)行搜索。

Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡自動(dòng)qiangzhi殘留物分析是*在臺(tái)式掃描電鏡運(yùn)行自動(dòng)qiangzhi殘留物分析軟件。其設(shè)計(jì)基于飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化，以提高用戶操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個(gè)項(xiàng)目：自動(dòng)槍擊殘留物分析和分類軟件包，BSED 和 EDS 探頭內(nèi)部集成，校準(zhǔn)試樣。

Phenom GSR自動(dòng)qiangzhi殘留物分析配備 CeB6 燈絲，使其穩(wěn)定運(yùn)行，燈絲壽命不低于 1500 個(gè)小時(shí)，從可用性，適用性和運(yùn)行時(shí)間的角度來(lái)看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時(shí)間，和快速的全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)，使得飛納 GSR 成為高度自動(dòng)化應(yīng)用的理想工具，可以用來(lái)進(jìn)行自動(dòng)qiang擊殘留物分析。

	Phenom GSR
光學(xué)放大	3 - 16 X
電子光學(xué)放大	80 - 100,000 X
分辨率	優(yōu)于 20 nm
數(shù)字放大	Max. 12 X
光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)	彩色
加速電壓	4.8 Kv - 20.5 Kv 連續(xù)可調(diào)
真空模式	高分辨率模式
	降低核電效應(yīng)模式
	高真空模式
探測(cè)器	背散射電子探測(cè)器
	二次電子探測(cè)器 (選配)
樣品尺寸	大 100 mm X 100 mm
	可同時(shí)裝載 36 個(gè) 0.5 英寸樣品臺(tái)
樣品高度	高 65 mm，樣品高度全自動(dòng)調(diào)節(jié)