產(chǎn)品概述

采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量。

測(cè)量范圍: 100 nm -200um

波長(zhǎng)范圍: 900 nm -2500 nm

適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

測(cè)量指標(biāo)：薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)

界面友好*: 一鍵式測(cè)量和分析。

實(shí)用的工具：曲線擬合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測(cè)量，動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線批量處理。