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紅外干涉測量設備 詳細摘要: 產品描述:紅外干涉測量技術, 非接觸式測量
產品型號:FSM 413 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜應力和硅片翹曲檢測儀 詳細摘要: 產品描述:光學設計減少圖形襯底對激光的干涉。
產品型號:薄膜應力和硅片翹曲檢測儀 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜應力及基底翹曲測試設備 詳細摘要: 產品描述:FSM128系列設備,裝備有光學掃描系統。
產品型號:FSM 128 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜應力及基底翹曲測試設備 詳細摘要: 產品描述:FSM 500TC 200mm 高溫應力測試系統可以幫助研發(fā)和工藝工程師評估薄膜的熱力學性能和穩(wěn)定性特性
產品型號:FSM 500TC 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
Line Card薄膜應力測量儀 詳細摘要: 產品描述:
產品型號:Line Card 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
連續(xù)式四探針片電阻及光學膜厚測量設備 詳細摘要: 產品描述:連續(xù)式四探針片電阻及光學膜厚測量設備設計, 片電阻不受針尖距離影響多種型號以供選擇
產品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
全自動紫外線芯片應力測量儀 詳細摘要: 產品描述:全自動紫外線芯片應力測量儀一臺全自動紫外線——可見光RAMan儀器,主要用與測量芯片應力。
產品型號:FSM360 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言
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